您好,歡迎來(lái)到興旺寶!請(qǐng) |免費(fèi)注冊(cè)

產(chǎn)品展廳本站服務(wù)收藏該商鋪

南北儀器有限公司

免費(fèi)會(huì)員
手機(jī)逛
南北儀器有限公司
當(dāng)前位置:南北儀器有限公司>>光學(xué)儀器設(shè)備>>光譜橢偏儀>> ETSys-Map-PVETSys-Map-PV在線薄膜測(cè)量系統(tǒng)

ETSys-Map-PV在線薄膜測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)品二維碼
參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號(hào):ETSys-Map-PV
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類別:其它
  • 所在地:鄭州市
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時(shí)間:2024-10-05 06:59:44
  • 瀏覽次數(shù):1
收藏
舉報(bào)

聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 興旺寶

南北儀器有限公司

其他

  • 經(jīng)營(yíng)模式:其他
  • 商鋪產(chǎn)品:6955條
  • 所在地區(qū):
  • 注冊(cè)時(shí)間:2015-02-11
  • 最近登錄:2023-12-05
  • 聯(lián)系人:
產(chǎn)品簡(jiǎn)介

ETSys-Map-PV是針對(duì)薄膜太陽(yáng)電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域中大面積樣品檢測(cè)專門(mén)設(shè)計(jì)的在線薄膜測(cè)量系統(tǒng)

詳情介紹
 ETSys-Map-PV是針對(duì)薄膜太陽(yáng)電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域中大面積樣品檢測(cè)專門(mén)設(shè)計(jì)的在線薄膜測(cè)量系統(tǒng)。

    ETSys-Map-PV用于對(duì)1.4m * 1.1m及以上的大面積薄膜太陽(yáng)電池樣品進(jìn)行在線檢測(cè)??蓽y(cè)量光滑平面或粗糙表面基底上的納米薄膜,包括單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k;并可同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k??蓽y(cè)量樣品上區(qū)域的樣品參數(shù)以及樣品表面的均一性分布。

    ETSys-Map-PV融合量拓科技在高精度激光橢偏儀及光伏在太陽(yáng)能電池領(lǐng)域的技術(shù)和產(chǎn)品設(shè)計(jì)方面的經(jīng)驗(yàn)。

特點(diǎn):

大面積絨面樣品上全表面測(cè)量

可對(duì)大面積絨面薄膜太陽(yáng)電池樣品上各點(diǎn)的性質(zhì)進(jìn)行分析和比較。光能量增強(qiáng)技術(shù)、低噪聲的探測(cè)器件以及高信噪比的微弱信號(hào)處理方法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)粗糙表面散射為主和反射率為特征的絨面太陽(yáng)電池表面鍍層的高靈敏檢測(cè)。

微米量的全面積掃描精度

系統(tǒng)設(shè)計(jì),能夠使探頭到達(dá)樣品上每個(gè)點(diǎn),掃描精度達(dá)到微米量。

原子層量的膜厚分析精度

采用非接觸、無(wú)破壞性的橢偏測(cè)量技術(shù),對(duì)納米薄膜達(dá)到的測(cè)量準(zhǔn)確度和靈敏度,膜厚測(cè)量靈敏度可達(dá)到0.05nm。

簡(jiǎn)單方便安全的儀器操作

用戶只需一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的材料測(cè)量和分析過(guò)程,數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出。豐富的模型庫(kù)、材料庫(kù)方便用戶進(jìn)行高測(cè)量設(shè)置。

應(yīng)用:

      ETSys-Map-PV適合于高精度要求的薄膜太陽(yáng)電池研發(fā)和質(zhì)量控制。

  ETSys-Map-PV可用于測(cè)量大面積的薄膜太陽(yáng)電池樣品上單層或多層納米薄膜層構(gòu)樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k;

  ETSys-Map-PV可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n及消光系數(shù)k;

  ETSys-Map-PV可應(yīng)用于:

大面積薄膜太陽(yáng)電池基底的材料測(cè)量

薄膜太陽(yáng)電池玻璃基底上透明導(dǎo)電氧化物(TCO)鍍膜測(cè)量

 

技術(shù)指標(biāo):

項(xiàng)目

技術(shù)指標(biāo)

系統(tǒng)型號(hào)

ETSys-Map-PV

結(jié)構(gòu)類型

在線式

激光波長(zhǎng)

632.8nm (He-Ne laser)

膜厚測(cè)量重復(fù)性(1)

0.05nm (對(duì)于Si基底上100nm的SiO2膜層)

折射率n精度(1)

5x10-4  (對(duì)于Si基底上100nm的SiO2膜層)

結(jié)構(gòu)

PSCA

激光光束直徑

~1 mm

入射角度

60°-75°可選

樣品放置

放置方式:水平

運(yùn)動(dòng):X軸單方向運(yùn)動(dòng)

運(yùn)動(dòng)范圍:>1.4m

三維平移調(diào)節(jié)

二維俯仰調(diào)節(jié)

可對(duì)樣品進(jìn)行掃描測(cè)量

樣品臺(tái)尺寸

1.4m*1.1m,并可定制。

測(cè)量速度

典型0.6s-4s /點(diǎn)(取決于樣品種類及測(cè)量設(shè)置)

大的膜層厚度測(cè)量范圍

光滑平面樣品:透明薄膜可達(dá)4000nm,吸收薄膜與材料性質(zhì)相關(guān)

選配件

樣品監(jiān)視系統(tǒng)

自動(dòng)樣品上片系統(tǒng)

  注:(1)測(cè)量重復(fù)性:是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量25次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。

性能保證

高穩(wěn)定性的He-Ne激光光源、高精度的采樣方法以及低噪聲探測(cè)技術(shù),保證了系統(tǒng)的高穩(wěn)定性和高準(zhǔn)確度

穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、可靠的樣品方位對(duì)準(zhǔn),結(jié)合的采樣技術(shù),保證了快速、穩(wěn)定測(cè)量

一體化集成式的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),使得系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、整體穩(wěn)定性提高

一鍵式軟件設(shè)計(jì)以及豐富的物理模型庫(kù)和材料數(shù)據(jù)庫(kù),方便用戶使用

 可選配件:

 NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片

 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片

上一篇: EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀(光
下一篇: ETSys-Map在線薄膜測(cè)量系統(tǒng)
我要評(píng)論
文明上網(wǎng),理性發(fā)言。(您還可以輸入200個(gè)字符)

所有評(píng)論僅代表網(wǎng)友意見(jiàn),與本站立場(chǎng)無(wú)關(guān)。

請(qǐng)選擇省份

  • 安徽
  • 北京
  • 福建
  • 甘肅
  • 廣東
  • 廣西
  • 貴州
  • 海南
  • 河北
  • 河南
  • 黑龍江
  • 湖北
  • 湖南
  • 吉林
  • 江蘇
  • 江西
  • 遼寧
  • 內(nèi)蒙古
  • 寧夏
  • 青海
  • 山東
  • 山西
  • 陜西
  • 上海
  • 四川
  • 天津
  • 新疆
  • 西藏
  • 云南
  • 浙江
  • 重慶
  • 香港
  • 澳門(mén)
  • 中國(guó)臺(tái)灣
  • 國(guó)外
=
同類優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品

在線詢價(jià)

X

已經(jīng)是會(huì)員?點(diǎn)擊這里 [登錄](méi) 直接獲取聯(lián)系方式

會(huì)員登錄

X

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏!
標(biāo)簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
產(chǎn)品對(duì)比

對(duì)比框