公務(wù)探傷試塊
主要用于測定直探頭和儀器組合性能的靈敏度余量,調(diào)節(jié)探傷靈敏度,確定缺陷大小及測定儀器的垂直線性等性能指標(biāo)其形狀,尺寸和形狀見圖片。
相關(guān)產(chǎn)品:
CSK-IA試塊 DB-H1,DB-H2試塊 WGT-1試塊 WGT-2試塊 WGT-3試塊 階梯試塊(帶把)
三角試塊 GTS-60加長試塊(長度1400mm) GTS-60鋼軌試塊(長度432mm )
GTS-60加長試塊(長度1800mm) 焊縫探傷試塊 軌道車輛車軸探傷方法在役車軸超聲波探傷
SBS-3滲透探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 不銹鋼鍍鉻滲透標(biāo)準(zhǔn)試塊 鋁合金滲透對比試塊 D型磁粉探傷用試片
M1型磁粉檢測試片 小徑管試塊 階梯試塊 荷蘭試塊 LS-1螺栓試塊 YM-D型滲透試塊(不銹鋼條紋試塊)
YM-B5型滲透試塊(不銹鋼五點(diǎn)試塊) YM-B3型滲透試塊(不銹鋼三點(diǎn)試塊) YM-A型滲透試塊
TD型磁場指示器(八角試塊) E型交流標(biāo)準(zhǔn)試塊(3孔試塊) B型直流標(biāo)準(zhǔn)試塊(12孔試塊)
C型磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片 A1型磁粉探傷試片 GB/T18851-II著色滲透試塊 鍍鉻輻射裂紋參考試塊
CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA超聲波檢測試塊
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