*標(biāo)準(zhǔn)試塊
WGT-2試塊
該試塊用于測(cè)量探傷儀和70度探頭距離幅度特性，它包括探傷儀的距離補(bǔ)償和探頭的距離幅度特性。另外利用該試塊也可測(cè)定儀器的水平線性誤差。試塊的尺寸和形狀見(jiàn)圖。
同類(lèi)產(chǎn)品：
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WGT-1試塊
該試塊的一端是半徑R=40mm的圓區(qū)面，用于測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度，另一端是R=15mm的模擬鋼軌螺孔，并有深3mm與水平面（B面）成36度角的螺孔裂紋。試塊上的直徑3橫通孔是用來(lái)測(cè)定斜探頭和儀器林敏度余量的。試塊的尺寸和形狀見(jiàn)圖片。
WGT-3試塊
該試塊用于測(cè)定斜率探頭的距離幅度和契內(nèi)回波幅度，也可作為37度和70度探頭靈敏度余量的測(cè)定。
相關(guān)產(chǎn)品：
SBS-3滲透探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 不銹鋼鍍鉻滲透標(biāo)準(zhǔn)試塊 鋁合金滲透對(duì)比試塊 D型磁粉探傷用試片
M1型磁粉檢測(cè)試片 小徑管試塊 階梯試塊 荷蘭試塊 LS-1螺栓試塊 YM-D型滲透試塊（不銹鋼條紋試塊）
YM-B5型滲透試塊（不銹鋼五點(diǎn)試塊） YM-B3型滲透試塊（不銹鋼三點(diǎn)試塊） YM-A型滲透試塊
TD型磁場(chǎng)指示器（八角試塊） E型交流標(biāo)準(zhǔn)試塊（3孔試塊） B型直流標(biāo)準(zhǔn)試塊（12孔試塊）
C型磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片 A1型磁粉探傷試片 GB/T18851-II著色滲透試塊 鍍鉻輻射裂紋參考試塊
CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA超聲波檢測(cè)試塊
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