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檢測(cè)鍍層機(jī)器設(shè)備
產(chǎn)品介紹
ACZET系列 X射線熒光分析測(cè)厚儀能提供:鍍層厚度和元素分析功能,不但性能*,而且*。分析鍍層厚度和元素成份同時(shí)進(jìn)行,只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,多層鍍層的厚度測(cè)量也一樣能勝任。輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實(shí)用,準(zhǔn)確性,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的選。
ACZET系列X射線熒光分析測(cè)厚儀特點(diǎn):
ACZET系列X射線鍍層測(cè)厚儀是基于X射線熒光技術(shù),該技術(shù)已經(jīng)被證實(shí)并且得到廣泛應(yīng)用,可以在無(wú)須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無(wú)損的分析。它能分析固體和液體,元素范圍包括從元素周期表中的22到U92,并且具有不同大小的樣品艙。
ACZET系列鍍層測(cè)厚儀的優(yōu)勢(shì)
操作軟件
X-Master是一款具備龐大應(yīng)用功能的軟件,并且我們更多新的應(yīng)用正不斷地加入更多新的應(yīng)用。
可選軟件模塊
選配置
Cube系列技術(shù)特點(diǎn)
一、功能
1. 采用X射線熒光光譜法無(wú)損測(cè)量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測(cè)量方法滿足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。
二、特點(diǎn)
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來(lái)料的純度.
Item 項(xiàng)目 | Part & Ref Number 部件號(hào) | Commodity & Description 貨物及描述 |
1 | Cube X射線鍍層測(cè)厚儀 |
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檢測(cè)鍍層機(jī)器設(shè)備
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