廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
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接觸角測量儀
膜厚儀
白光干涉測厚儀
光譜部件及外設(shè)
拉曼光譜儀
差示/熱重/差熱/熱分析
紅外光譜(IR、傅立葉)
納米壓痕儀、劃痕儀
水滴角測量/親水角測試儀
掃描探針顯微鏡/原子力
激光粒度儀、納米粒度儀
顯微操作儀
核磁共振(NMR)
熒光分光光度計(jì)(分子熒光
X射線衍射儀(XRD)
激光光散射儀
原子吸收光譜(AAS)
掃描電鏡(SEM)
電化學(xué)工作站、恒電位儀
X熒光光譜XRF能量色散型
切片機(jī)
儀器鑒定用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
制冷設(shè)備超低溫冰箱
分析儀器-光譜
透反射率測量儀
納米粒度儀
實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備
光學(xué)顯微鏡
  • TF200-DUV反射式膜厚測試儀

    TF200-DUV反射式膜厚測試儀探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時(shí)...

    型號: 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2022/4/28 17:30:02 對比
    反射式膜厚測試儀
  • Leica 全自動臨界點(diǎn)干燥儀 EM CPD300

    Leica 全自動臨界點(diǎn)干燥儀 EM CPD300以及如微型機(jī)電系統(tǒng)(MEMS:Micro Electro Mechanical Systems)等樣品的干燥,...

    型號: 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2022/4/28 17:30:02 對比
    干燥儀
  • FEG系列” 場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡

    FEG系列" 場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡Quanta FEG系列場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡是FEI公司的新產(chǎn)品之一。是在FEI公司*產(chǎn)品XL30 ESEM-FEG場...

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    電子顯微鏡場發(fā)射環(huán)境掃描顯微鏡綜合場發(fā)射電鏡高分辨適合樣品多樣性顯微鏡
  • FEI “Quanta系列”環(huán)境掃描電子顯微鏡”

    FEI “Quanta系列"環(huán)境掃描電子顯微鏡"FEI公司一代的、真正的多用途掃描電鏡,是*的Quanta產(chǎn)品家族的第三代產(chǎn)品。

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    電子顯微鏡環(huán)境掃描電子顯微鏡多用途掃描電鏡
  • FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

    FEI “Q系列"掃描電子顯微鏡是較經(jīng)濟(jì)、高效的高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案。在設(shè)計(jì)上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù)。

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    電子顯微鏡高效的高分辨成像高效的高分辨成像
  • 賽可 3200M 經(jīng)濟(jì)型臺式掃描電鏡

    賽可 3200M 經(jīng)濟(jì)型臺式掃描電鏡是專門從事開發(fā)生產(chǎn)X-RAY檢測設(shè)備和掃描電子顯微鏡(SEC)的檢測設(shè)備研發(fā)制造公司

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    電子顯微鏡經(jīng)濟(jì)型臺式掃描電鏡高品質(zhì)樣品掃描電鏡
  • 薄膜厚度測定儀

    薄膜厚度測定儀利用薄膜干涉光學(xué)原理,對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。Delta根據(jù)反射回來的干...

    型號: Delta 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2022/4/28 17:30:02 對比
    光學(xué)膜厚儀白光干涉測厚儀薄膜厚度儀薄膜厚度測定儀薄膜厚度檢測儀
  • 薄膜厚度檢測儀

    薄膜厚度檢測儀利用薄膜干涉光學(xué)原理,對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。Delta根據(jù)反射回來的干...

    型號: Delta 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2022/4/28 17:30:02 對比
    光學(xué)膜厚儀白光干涉測厚儀薄膜厚度儀薄膜厚度測定儀薄膜厚度檢測儀
  • 薄膜厚度儀

    薄膜厚度儀利用薄膜干涉光學(xué)原理,對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。Delta根據(jù)反射回來的干涉光...

    型號: Delta 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2022/4/28 17:30:02 對比
    光學(xué)膜厚儀白光干涉測厚儀薄膜厚度儀薄膜厚度測定儀薄膜厚度檢測儀
  • 薄膜厚度測量儀Delta

    薄膜厚度測量儀DeltaDelta薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理,對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收...

    型號: Delta 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2022/4/28 17:30:02 對比
    光學(xué)膜厚儀白光干涉測厚儀薄膜厚度儀薄膜厚度測定儀薄膜厚度檢測儀
  • Delta薄膜厚度測量系統(tǒng)

    Delta薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理,對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。Delta根據(jù)...

    型號: Delta 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2022/4/28 17:30:02 對比
    光學(xué)膜厚儀白光干涉測厚儀薄膜光澤度儀薄膜厚度測定儀薄膜厚度檢測儀
  • 貝拓白光干涉薄膜厚度測量儀Delta

    貝拓白光干涉薄膜厚度測量儀Delta根據(jù)反射回來的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時(shí)完成多層膜厚的測試。對于100...

    型號: Delta-NIR 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2022/4/28 17:30:02 對比
    測厚儀蔳膜厚度測量儀薄膜干涉光學(xué)納米薄膜厚度膜厚儀
  • 透明薄膜測厚儀

    透明薄膜測厚儀根據(jù)反射回來的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時(shí)完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以...

    型號: 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2022/4/28 17:30:02 對比
    薄膜測厚儀薄膜厚度測量儀透明薄膜測厚儀薄膜測厚儀膜厚儀
  • 白光干涉儀

    白光干涉儀根據(jù)反射回來的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時(shí)完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以測量...

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    薄膜厚度儀白光干涉儀透明薄膜厚儀白光干涉儀膜厚儀
  • 白光干涉測厚儀

    白光干涉測厚儀根據(jù)反射回來的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時(shí)完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以...

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    薄膜厚度儀白光干涉儀透明薄膜厚儀白光干涉儀膜厚儀
  • Te系列 -測試粒子

    Te系列 -測試粒子該測試粒子主要應(yīng)用與通用實(shí)驗(yàn)。它所含的固相粒子濃度高達(dá)5%,粒徑分布窄(CV值為5%-10%),指標(biāo)較當(dāng)前 LS, HS 和 Pu系列單分散...

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    標(biāo)準(zhǔn)粒
  • 標(biāo)準(zhǔn)粒子計(jì)數(shù)套件- PC系列

    標(biāo)準(zhǔn)粒子計(jì)數(shù)套件- PC系列這些現(xiàn)成的工具包包含空白比照和粒徑均一的球形顆粒懸浮液以及使用說明書。你可根據(jù)說明書直接以直接檢查是否一個(gè)粒子計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)準(zhǔn)確。

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    標(biāo)準(zhǔn)粒
  • 油性標(biāo)準(zhǔn)粒子ISO-MTD2.8- Oi系列

    油性標(biāo)準(zhǔn)粒子ISO-MTD2.8- Oi系列新的ISO-MTD2.8標(biāo)準(zhǔn)粒子名義為61000個(gè)粒子每10毫升(≥4μm),粒子懸浮在超凈液壓油中以便根據(jù)ISO ...

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    標(biāo)準(zhǔn)粒
  • 三維各向異性標(biāo)準(zhǔn)粒子

    三維各向異性標(biāo)準(zhǔn)粒子形狀參考粒子有兩種包裝形式,即100毫克的粉末和3.0毫升的水/乙醇懸浮液。保質(zhì)期是12個(gè)月,的產(chǎn)品不能用于診斷或治療,僅供實(shí)驗(yàn)室使用。

    型號: 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2022/4/28 17:30:02 對比
    標(biāo)準(zhǔn)粒
  • EKO DisperSizer DS-1 粒度分布分析器

    EKO DisperSizer DS-1 粒度分布分析器是一個(gè)強(qiáng)大的、可靠的和易于使用的粒度分布分析儀提供了可靠和可重復(fù)的結(jié)果集中,渾濁的,彩色或粘稠乳液。

    型號: 所在地:廣州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2022/4/28 17:30:02 對比
    粒度分布分析器

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