FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡 返回列表頁

FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

對于失效分析、質(zhì)量控制和材料表征而言、Q25是經(jīng)濟、高效的高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案。在設(shè)計上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù)。 

為應(yīng)對不導(dǎo)電樣品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了對的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設(shè)計和真空系統(tǒng)能夠快速更換樣品、允許日常高效、快速檢測樣品。 

為滿足客戶對大樣品或塊狀樣品的要求、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺行程。另外、Q45加上了環(huán)境掃描（ESEM）模式、擴展了SEM的成像和分析功能到加熱、含水或放氣的樣品。

 簡單易用，即使是新手利用直觀的軟件可實現(xiàn)高效操作。 
 利用穩(wěn)定的高束流（上至2 μA）電子束可以迅速獲得精確的分析結(jié)果。 
快速輕松表征導(dǎo)電和非導(dǎo)電樣品 
 支持可選的分析功能。利用*的多級穿過透鏡的真空系統(tǒng)在高真空和低真空下使導(dǎo)電樣品和不導(dǎo)電樣品的精確EDS分析成為可能。 
Q45 SEM: 采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動態(tài)原位分析。

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