哈爾濱涂層測厚儀有廠家嗎大慶鍍鉻層測厚儀MC-2000C產品簡介

MC-2000C型涂層測厚儀（鍍層測厚儀），是*的結晶,它采用單片機技術，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測量、體積小、重量輕；且具有存儲、讀出、統(tǒng)計、低電壓指示、系統(tǒng)校準，其性能達到當代同類儀器的*水平。

哈爾濱涂層測厚儀有廠家嗎大慶鍍鉻層測厚儀應用范圍

涂層測厚儀儀器采用磁性測厚法，可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

MC-2000C涂層測厚儀工作原理

 MC-2000C型涂鍍層測厚儀采用電磁感應法測量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭

產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂鍍層厚度。

MC-2000C涂層測厚儀產品特點

輕松讀?。?/span>可存入測量數(shù)據(jù)600個，對測量中的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可以刪除存儲區(qū)內的所有數(shù)據(jù)，讀出已存入的測量數(shù)據(jù)。

二、MC-2000C涂層測厚儀產品性能

1、測量范圍：　　0～5000um

2、測量誤差：　　<3%±1um

3、zui小示值：　　1um

4、顯示方式：    4位液晶數(shù)字顯示

5、主要功能：

   (1).測量：   　  單探頭全量程測厚

   (2).存儲、刪除： 可存入測量數(shù)據(jù)600個，對測量中的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可以刪除存儲區(qū)內的所有數(shù)據(jù)。

   (3).讀：　 讀出已存入的測量數(shù)據(jù)

   (4).統(tǒng)計： 設有三個統(tǒng)計量，平均值zui大值zui小值

   (5).校準： 可進行系統(tǒng)校準

   (6).電量： 具有欠壓顯示功能

   (7).打印： 可打印測量值，選配微型打印機

   (8).關機： 具有自動關機和手動關機兩種方法

6、電源：    　　　  兩節(jié)1.5v電池

7、功耗：      　　　zui大功耗100mw

8、外形盡寸：    　51mm*126mm*27mm

9、重量：　　　　　 160g（含電池）

10、使用環(huán)境溫度：　0℃～+40℃  相對濕度：不大于90%

11、基體zui小厚度：     0.5mm

12、基體zui小平面的直徑：   7mm

13、zui小曲率半徑：     凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示：       右上角顯示＂＂

*臨界厚度小：工件鐵基厚度大于1mm時,其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度

三、MC-2000C型涂層測厚儀配置單

 MC-2000C說明書下載

   1、MC-2000C型涂鍍層測厚儀                 一臺

   2、七號電池                               二節(jié)

   3、探頭                                   一支

   4、標準樣片                               一盒

   5、小鋁箱                                 一個

   6、說明書、合格證                         一套

 選配件：                                                               

    1、打印機及通訊打印連線                  1套  

    2、微機通訊軟件                          1盤

1. 內防腐探頭

注意事項：

（１）測量曲面及圓柱體，曲率半徑較小時，應在未涂覆的工件上校準，以保證測量精度。

（２）在曲率半徑較小的凹面內測量時，應重新校正。

五、影響哈爾濱涂層測厚儀有廠家嗎大慶鍍鉻層測厚儀測量的若干因素：

基體金屬磁化：磁性法測量受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應使用與鍍件金屬具有相同性質的鐵基片上 對儀器進行校對。

基體金屬厚度：每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度，大于這個厚度測量就不受基體厚度的影響。

邊緣效應：本儀器對試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。

曲率：試件的曲率對測量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。

表面粗糙度：基體金屬和表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測量時，在不同位置上增加測量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。

如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對儀器零點。

磁場：周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性測量厚度的工作。

附著物質：本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感。因此必須清除附著物質，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

探頭的放置：探頭的放置方式對測量有影響，在測量中使探頭與試樣表面保持垂直。

試片的變形：探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。

讀數(shù)次數(shù)：通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測量面積內取幾個測量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內進行測量，表面粗糙時更應如此。