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FS-2000植物冠層分析儀

產(chǎn)品二維碼
參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類(lèi)別:植物檢測(cè)儀器
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時(shí)間:2023-09-27 09:03:16
  • 瀏覽次數(shù):16
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生產(chǎn)廠(chǎng)家

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  • 經(jīng)營(yíng)模式:生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 商鋪產(chǎn)品:221條
  • 所在地區(qū):河北石家莊市
  • 注冊(cè)時(shí)間:2023-08-31
  • 最近登錄:2023-08-31
  • 聯(lián)系人:王躍紅 (經(jīng)理)
  • 電    話(huà):13831157875
產(chǎn)品簡(jiǎn)介

FS-2000植物冠層分析儀的詳細(xì)資料:FS-2000植物冠層分析儀▲非破壞性地測(cè)定冠層結(jié)構(gòu)

詳情介紹

FS-2000植物冠層分析儀的詳細(xì)資料:

FS-2000植物冠層分析儀

▲ 非破壞性地測(cè)定冠層結(jié)構(gòu)。

▲ 可以測(cè)量冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)。

▲ 手持式萬(wàn)向接頭自動(dòng)水平調(diào)整探頭,無(wú)需三角架。

▲ 圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域。

結(jié)構(gòu)特點(diǎn)

專(zhuān)門(mén)為植物冠層結(jié)構(gòu)測(cè)量設(shè)計(jì)的小型魚(yú)眼攝像鏡頭安裝在萬(wàn)向平衡接頭上,可自動(dòng)保持鏡頭處于水平狀態(tài)鏡頭安裝在測(cè)桿一端,可以方便地水平向前或垂直向上伸入到茂密的冠層中,測(cè)桿一端的通迅線(xiàn)可聯(lián)接在計(jì)算機(jī)上,方便取圖操作由于小巧和帶有測(cè)桿,可伸入冠層不同高度處,快速地進(jìn)行分層測(cè)量,測(cè)出群體內(nèi)光透過(guò)率和葉面積指數(shù)垂直分布圖,測(cè)桿上附帶有線(xiàn)性PAR探頭,同時(shí)可測(cè)量冠層內(nèi)外的光量子通量密度(μmol/㎡•S)值,該值可以做為冠層內(nèi)能量分析的參考值.


測(cè)量參數(shù)
葉面積指數(shù)
葉片平均傾角
散射輻射透過(guò)率
不同太陽(yáng)高度角下的直射輻射透過(guò)率
不同太陽(yáng)高度角下的消光系數(shù)
葉面積密度的方位分布
用途與適用范圍
可測(cè)算植物冠層的太陽(yáng)直射光透過(guò)率、天空散射光透過(guò)率、冠層的消光系數(shù),葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等,可用于農(nóng)作物、果樹(shù)、森林內(nèi)冠層受光狀況的測(cè)量和分析可用于不同植物群體結(jié)構(gòu)的比較;可對(duì)農(nóng)田作物群體生長(zhǎng)過(guò)程進(jìn)行動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)適用于生態(tài)學(xué)野外植物群體動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)的研究與教學(xué);
也適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、植物群體對(duì)比與發(fā)展的研究與教學(xué)。
硬件參數(shù)
鏡頭角度:150°(或用戶(hù)自選180°鏡頭。除用戶(hù)有特殊需要,180°魚(yú)眼鏡頭經(jīng)常不適合孔隙測(cè)量
原理與方法所假設(shè)的前提條件,用于冠層結(jié)構(gòu)分析是不適宜和不經(jīng)濟(jì)的)
分辨率:768×494pix
測(cè)量范圍:天頂角由0°~75°
PAR感應(yīng)范圍:感應(yīng)光譜400nm~ 700nm 測(cè)量范圍0~2000μmol/㎡•S
分析軟件:植物冠層分析系統(tǒng)
顯示和內(nèi)存:決定于筆記本電腦的選擇。
電 源:鋰電池組
傳輸接口:USB
工作溫度:0~55℃
作物葉面積指數(shù)是描述作物冠層結(jié)構(gòu)的一個(gè)重要參數(shù),作物冠層直接影響著作物光合作用、蒸騰等關(guān)鍵生理過(guò)程,葉面積指數(shù)是許多作物生長(zhǎng)模型、長(zhǎng)勢(shì)評(píng)價(jià)模型、作物估產(chǎn)模型的重要參數(shù)。所以測(cè)量作物冠層具有重要的意義。
原理與方法
FS-2000植物冠層分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線(xiàn)穿過(guò)介質(zhì)減弱的比爾定律,在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式,通過(guò)冠層孔隙率的測(cè)定,計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀*采用的原理。在上述原理下, 植物冠層圖象分析儀采用的是對(duì)冠層下天穹半球圖像分析測(cè)量冠層孔隙率的方法,該方法是各類(lèi)方法中較精確和省力、省時(shí)、快捷方便的方法。



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