日本電子技研iwatsu電容式位移計ST-3541
ST-3541采用“無源型",探頭中沒有內(nèi)置電路。因此,穩(wěn)定性大大提高。此外,由于沒有電路部件,因此緊湊且具有用于結(jié)合的z佳結(jié)構(gòu)。
它是納米位移測量,精密工作臺位置檢測/姿態(tài)控制,平面度和厚度測量的理想選擇。
特征
出色的高穩(wěn)定性
下圖是在25測量在恒溫浴組穩(wěn)定性的一例℃。
您可以看到已經(jīng)進行了12小時的長時間穩(wěn)定測量。
實現(xiàn)高分辨率測量
z大分辨率0.3nm-rms下
圖顯示了由步進電信號驅(qū)動的壓電元件的位移。
即使只有1 nm的小步進信號,也可以很好地檢查響應(yīng)。
1nm步進
波形:頻率0.15Hz步進寬度1nm。
頻段設(shè)定:100Hz
線性度0.05%
通過使用不需要線性化器的測量方法,可以實現(xiàn)出色的線性度。
較小的探頭使安裝更容易由于探頭主體沒有內(nèi)置電路,因此尺寸已大大減小。
這大大擴展了結(jié)合到測量系統(tǒng)中的自由度。使用的連接電纜,可以
在通道之間進行同步操作。即使使用多臺設(shè)備,也可以通過連接通道進行同步操作。同步操作可防止通道之間的干擾并穩(wěn)定測量結(jié)果。您可以減少系統(tǒng)構(gòu)建的成本。
當使用多個通道時,只有通過按需供電才可以擴展,因此可以降低系統(tǒng)構(gòu)建成本。
可以在真空中進行測量
通過使用與真空兼容的定制探頭,可以測量真空中的位移。
日本電子技研iwatsu電容式位移計ST-3541
應(yīng)用領(lǐng)域
精密定位,位置檢測,半導體的姿態(tài)控制,精密處理,顯微鏡等
壓電元件的振動和振幅測量等
硅片,金屬板,精密加工零件等的平面度和厚度測量
測量軸跳動,表面跳動和精密電機的圓度等
納米位移測量
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