HIOKI 3504-50 C測試儀有BIN測量，GP-IB接口；封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
- 高速測量2ms
- 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
- 對應(yīng)測試線，比側(cè)儀功能/觸發(fā)輸出功能
- C測試儀3504-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
- 3504-40記錄工具，實現(xiàn)高速/低成本的測試
- 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
日置 C測試儀HIOKI 3504-50技術(shù)參數(shù)：
| 測量參數(shù) | Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ） |
| 測量范圍 | C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 |
| 基本確度 | （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各系數(shù) |
| 測量頻率 | 120Hz, 1kHz |
| 測量信號電平 | 恒定電壓模式: 100mV （*3504-60） 500 mV, 1 V 測量范圍: CV 100mV:～ 170μF 量程 （測量頻率 1kHz）, ～ 1.45mF 量程 （測量頻率 120Hz） CV 500mV: ～ 170μF 量程 （測量頻率 1kHz）, ～ 1.45mF 量程 （測量頻率 120Hz） CV 1V: ～ 70μF 量程 （測量頻率 1kHz）, ～ 700μF 量程 （測量頻率 120Hz） |
| 輸出電阻 | 5Ω（開路端子電壓模式,上述測量范圍以外） |
| 顯示 | 發(fā)光二級管 （6行表示，滿量程計算器根據(jù)量程而定） |
| 測量時間 | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※測量時間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同 |
| 機能 | 4端子控制檢測功能（* 3504-60），BIN測量（除去3504-40），觸發(fā)同時輸出，儲存測量條件，比較測量值的場強，平均值功能，Low-C抑制功能，鳴叫功能，控制用輸出入（EXT.I/O），RS-232C界面（標準裝備），GP-IB接口（3504-40除外） |
| 電源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, zui大110VA |
| 體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
| 附件 | 電源線×1，預(yù)備電源保險絲×1，接地適配器×1 |
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