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英國穩(wěn)科阻抗分析儀6500系針對廣泛多樣的用戶及不同的需求，包括被動組件設計師、電介體、絕緣體材料的研發(fā)測試人員以及生產(chǎn)線上的負責人員，本系列產(chǎn)品提供高頻的阻抗測試（可達120M Hz），應用于對組件特性的分析。高速量測及完整的測試功能，使該系列成為強有力的工具USB接口能直接儲存曲線圖形及量測數(shù)據(jù)，大型TFT觸摸顯示屏令該產(chǎn)品更為簡單易用，精細的掃描分辨率（1mHz）使共振頻率的量測快速。

產(chǎn)品特點：

簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手
電介質、壓電片及石英晶體測試解決方案
30 ms超高速測試速度
等效Rdc 可四線式測試，量測到0.01mΩ
0.05%基本精度
可內(nèi)建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias
可將測試波形儲存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能
20Hz~120MHz，七種機型，可隨時升級，可升級到120MHz
直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER
可使用鼠標及鍵盤操控，也可外接打印機及使用USB接口儲存數(shù)據(jù)
具等效電路仿真功能，內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺

準確快速的進行元件測試, ±0.05%基本精度, 使該系列產(chǎn)品成為同級當中的翹楚。

多功能性使WK6500系列成為各種不同類型的工作和應用程式的理想選擇。使用者包括被動元件設計師，電介體、絕緣體的設計測試人員，及生產(chǎn)線的測試人員。

工程師需要在高頻率的狀況下以*的精度來定義元件的特性，WK6500B系列精密阻抗分析儀成為您準確易用的理想測試工具。

測試參數(shù)

電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ ??相對介電常數(shù)實部、ε′′r相對介電常數(shù)虛部、Dε相對介電損耗）、磁導率（μ ′ ??相對磁導率實部、μ′′r 相對磁導率虛部、Dμ相對磁導率損耗）

高精度量測

電容C,電感L及阻抗Z基本精度為±0.05%。損耗因數(shù)D精度為±0.0005及品質因數(shù)Q精度為±0.05%。

元件圖形掃描

WK6500B系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率，高精度的量測。該設備還是一個包含豐富特性的元件分析儀。
曲線掃描可依據(jù)頻率、電壓值和直流偏流源同時在清晰度高的大型彩色屏幕上顯示任意兩種參數(shù)的曲線。顯示格式包括串聯(lián)或并聯(lián)等效電路。

單測某一頻率時可以從曲線掃描轉換成標準LCR表讀值模式。

可變的輸出和偏壓源

交流輸出可選高達1V或20mA，實現(xiàn)在真實操作環(huán)境中來評估元件。可變偏壓直流源可提供達100mA的電流.

外部控制

在品管或制作檔譜的過程中可通過 GPIB介面來控制儀器和收取讀值.
網(wǎng)端介面也具有同樣的控制儀器和傳輸資料的功能 – 使儀器能適應許多不同的測試環(huán)境.

多選擇的介面

VGA介面可連接到PC顯示器或投影機, 這種功能為生產(chǎn)環(huán)境或教學培訓都提供無法衡量的價值. 本機還可通過外接鍵盤和滑鼠來操控,任何PS2或USB鍵盤和滑鼠都能簡單的接插到系統(tǒng)中, 提供控制和操作儀器的另一種可行方式.

資料儲存和提取

所有的測試結果及設制都可以通過網(wǎng)路介面或USB閃盤來儲存.

分類處理介面

Bin Handler 為可選設制, 通過25相D型接頭提供獨立(24V)和非獨立(5V)的信號.

印表機輸出

測試結果可通過幾種不同的途經(jīng)列印出,其中包括直接列印至HP-PCL匹配的圖形印表機, EPSON相匹配的文字印表機或直接通過儀器的網(wǎng)口經(jīng)局域網(wǎng)列印.

待測元件連接

可通過面板的BNC接頭來實現(xiàn)倆端,三端或四埠的連接以及可能的接地狀況.備有許多的可選附件以供不同的測試需要.

充電電容保護

高精密的測試儀器可能在使用過程中被已充電的電容裝置所損壞,造成昂貴的維修及不必要的停產(chǎn). 6500系列有內(nèi)置的保護來避免這種情況發(fā)生.

功能介紹：

規(guī)格參數(shù)：

機型	1J6505B	1J6510B	1J6515B		1J6520B	1J6530B	1J6550B	1J65120B
頻率	20Hz~5MHz	20Hz~10MHz	20Hz~15MHz		20Hz~20MHz	20Hz~30MHz	20Hz~50MHz	20Hz~120MHz
測試參數(shù)	L（電感）、Q（品質因素）、D（消耗因素）、C（電容）、Z（阻抗）、X（電抗）、ACR（交流電阻）、θ（相位角）、Y（導納）、G（電導）、 B（電納）
參數(shù)范圍	Z, R, X: 0.01m > 2GΩ
	G, Y, B: 0.01mS ~ >2kS
	L: 0.1nH ~ > 2kH
	C: 1Ff ~ >1F
	D: 0.00001 ~ >1000； Q: 0.00001 ~ >1000
	θ: -180o~+180o
電平	10mV~1Vrms; 200μA~20mA
輸出阻抗	50Ω
直流疊加	內(nèi)置：0~100mV/0 ~ +40V; -40V ~ +40V（選配）
	外加：0 ~ +40A(選配)
測試模式	電表模式（測試值顯示）/ 分析模式（掃描曲線）
	諧振頻率測試
	測試值 / 偏差值
	測試值下載 / CSV格式
	等效電路分析測試（選配）WK65120B為標配
	絕緣材料介電常數(shù)測試和磁性材料磁導率測試
	分類挑選（選配） / 多步驟測試（選配） / 震蕩器 / 壓電組件測試（選配）
通信接口	GPIB, LAN, Handler / PASS, FAIL（選配）
內(nèi)存	20組
溫濕度	溫度0℃~40℃（操作）,-20℃~60℃（儲存），濕度>80%
輸入電壓	使用電源90~264Vac（可自動切換），頻率47~63Hz
標準配件	操作手冊，電源線，1J1011測試夾具或1J1012測試夾具，U盤
選配	/M Multi Measurement Mode（多步測量模式）			/B2 Binning Opto-Coupled（光藕分選）
	/L Data Logger Mode（數(shù)據(jù)記錄模式）			/D1 0 ~+40Vdc bias（內(nèi)置）
	/E Equivalent Circuit Analysis（等效電路分析）			/D2 -40V ~+40Vdc bias（內(nèi)置）
	/B1 Binning（分選）			訂購65120B可附贈選配D1/D2其中之一
	1J1012 SMD二線式測試治具			5-654-7010 Transfer Standard Kit-Dip（插件式校準件）
	1J1014 SMD四線式測試治具			5-654-7011 Transfer Standard Kit-SMD（SMD標準件）
	1EVA40120 SMD鑷子式測試治具
尺寸/凈重量	尺寸(mm)190/H×440/W×525/D 凈重量14.5Kg

參數(shù)配置：

使用電源	90 V AC to 264 V AC
頻率	50/60 Hz
顯示幕	8.4” VGA(640x480)彩色TFT觸屏
印表機輸出	HP-PCL匹配的圖形印表機, EPSON相匹配的文字印表機, 通過儀器的網(wǎng)口經(jīng)局域網(wǎng)列印.
遠程控制	GPIB IEEE-488.2 及 SCPI 1992.0
遠程觸發(fā)	Rear panel BNC with internal pull-up, operates on logic low or contact closure
USB介面	兩個USB介面,USB1.0 compliant
VGA介面	15-way D-type connector to drive an external monitor in addition to the internal screen
局域網(wǎng)介面	10/100-BASETX Ethernet controller. RJ45 connector
鍵盤	Standard USB or PS/2 keyboard port. Instrument front panel remains active with keyboard plugged in
滑鼠	Standard USB orPS/2 mouse port. Touch screen remains enabled when the mouse is connected.
Bin Handler (optional)	Isolated (24 V) and non-isolated (5 V). 25-way D-type connector