涂層測厚儀  涂鍍層測厚儀  便攜式覆層測厚儀

型號：LT/TT260

涂層測厚儀  涂鍍層測厚儀北京供應(yīng)產(chǎn)品概述：
儀器是一種便攜式測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。該儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》 JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》

涂層測厚儀  涂鍍層測厚儀北京供應(yīng)功能特點(diǎn)：
該儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如：橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等）。
 可使用7 種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)；
 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
 設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S．DEV)；
 可采用兩種方法對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
 具有存貯功能：可存貯495 個測量值；
 具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測量；
 可設(shè)置限界：對限界外的測量值能自動報警；并可用直方圖對一批測量值進(jìn)行分析；
 具有打印功能：可打印測量值、統(tǒng)計值、限界、直方圖；
 具有與PC 機(jī)通訊的功能：可將測量值、統(tǒng)計值傳輸至PC 機(jī)，以便對數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理；
 具有電源欠壓指示功能；
 操作過程有蜂鳴聲提示；
 具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯誤提示；
 設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動關(guān)機(jī)方式和自動關(guān)機(jī)方式
 

涂層測厚儀  涂鍍層測厚儀北京供應(yīng)技術(shù)參數(shù)：
測頭類型  可選，見附表 
測量原理  磁感應(yīng)和電渦流 
測量范圍  探頭決定 
低限分辨力  探頭決定 
探頭連接方式  分體式導(dǎo)線連接（可更換） 
示值誤差  一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) 探頭決定 
 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) 探頭決定 
測量條件  zui小曲率半徑(mm) 探頭決定 
 基體zui小面積的直徑(mm)  探頭決定 
 zui小臨界厚度(mm)  探頭決定 
溫濕度  0~40℃ 
20%RH～90%RH 
統(tǒng)計功能  平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、
測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV) 
工作方式  直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl) 
測量方式  連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE) 
上下限設(shè)置  有 
存儲能力  495 個測量值 
打印/連接計算機(jī)  自帶打印機(jī)/能連接電腦 
關(guān)機(jī)方式  手動和自動 
電源  1/2鎳氫電池5×1.2V 
外形尺寸  270×86×47mm 
重量  530g 
TT260涂層測厚儀可選探頭參數(shù)表
測頭型號  F400 F1 F1/90 F10 N1 CN02
工作原理  磁感應(yīng)  電渦流 
測量范圍(um) 0-400 0-1250 0-10000 0-1250（銅上鍍鉻0-40um）10-200
低限分辨力(um)  0.1 0.1 10 0.1 1
示值誤差  一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[3%H+1]  ±[3%H+10]  ±[3%H+1.5]  ±[3%H+1] 
 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[(1～3)%H+0.7]  ±[(1～3)%H+1]  ±[(1～3)%H+10]  ±[(1～3)%H+1.5]  -
測量條件  zui小曲率半徑(mm) 凸 1  凸1.5  平直  10 3 平直 
 基體zui小面積的直徑(mm) ф3  ф7  ф7  ф40  ф5  ф7 
 zui小臨界厚度(mm) 0.2  0.5  0.5  2 0.3 無限制 
 
覆蓋層 
基體  有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等） 非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）
 覆蓋層厚度不超過100µm  覆蓋層厚度超過100µm  覆蓋層厚度不超過100µm  覆蓋層厚度超過100µm 
如 鐵、鋼
等磁性金屬  被測面積的直徑大于30mm  F400 型測頭 0～400µm
F1 型測頭 0～1250µm  F1 型測頭 0～1250µm
F10 型測頭 0～10mm  F400 型測頭 0～400µm
F1 型測頭 0～1250µm  F1 型測頭 0～1250µm
F10 型測頭 0～10mm 
 被測面積的直徑小于30mm  F400 型測頭 0～400µm  F400 型測頭 0～400µm
F1 型測頭 0～1250µm  F400 型測頭 0～400µm  F400 型測頭 0～400µm
F1 型測頭 0～1250µm 
如銅 、鋁 、
黃銅 、鋅 、錫
等 有色金屬  被測面積的直徑大于5mm  N1 型測頭 0～1250µm  僅用于銅上鍍鉻N1 型測頭 0～40µm 
塑料、印刷線路非金屬基體  被測面積的直徑大于7mm  - - CN02 型測頭10～200µm