XT-50型沖擊試樣缺口投影儀
一、產(chǎn)品介紹
XT-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-94《金屬夏比缺口沖擊試驗方法》中沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。
對于夏比V型缺口沖擊試驗，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格(試樣缺口深2mm、呈45º角且試樣缺口端要求R0.25±0.25)，故在整個試驗過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口端的微小變化(其公差帶只有0.25mm)都會引起試驗結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗的臨界值時會引起產(chǎn)品報廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，對缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的質(zhì)量控制手段。
二、技術(shù)參數(shù)
投影屏 | 200×200mm |
放大倍率 | 50X |
光源 | 12V 100W(鹵鎢燈)(Tungsten halogen lamp) |
試樣臺調(diào)節(jié) | 前、后、左、右、上、下、360°旋轉(zhuǎn) |
電源 | 200V 50HZ 200W |
外型尺寸 | 515×224×603mm |
重量 | 約18kg |
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