儀器介紹: 激光光譜原位分析儀(LIBSOPA-200)是激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析技術(shù)(LIBS)和原位統(tǒng)計(jì)分布分析技術(shù)(OPA)結(jié)合的分析儀器。激光誘導(dǎo)擊穿光譜原位統(tǒng)計(jì)分布分析技術(shù)(LIBSOPA)通過(guò)激光聚焦于樣品表面,樣品被擊穿形成高溫等離子體,通過(guò)檢測(cè)等離子體光譜信號(hào),獲得樣品的成分及元素分布信息的技術(shù)。其分析原理是:樣品表面被高能激光擊穿形成等離子體,等離子體光線(xiàn)經(jīng)過(guò)濾波,分光之后被多通道的光電倍增管檢測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)。根據(jù)光譜特征譜線(xiàn)波長(zhǎng)得出被擊穿位點(diǎn)的元素種類(lèi);定標(biāo)后對(duì)應(yīng)譜線(xiàn)的強(qiáng)度表示被擊穿位點(diǎn)元素的濃度。借助精密三維移動(dòng)平臺(tái)在樣品激發(fā)表面很好的定位和記錄,實(shí)現(xiàn)任意點(diǎn)掃描,一維線(xiàn)性?huà)呙?,一維深度分析和二維面掃描分析,并據(jù)此獲得與材料原位置相對(duì)應(yīng)的各元素原始含量及狀態(tài)信息,可以用統(tǒng)計(jì)解析的方法定量表征材料的偏析度、疏松度等信息。該方法不但有激光光譜的非接觸分析,微區(qū)分析,深度分析的優(yōu)點(diǎn),又具備原位統(tǒng)計(jì)分布分析技術(shù)的原位性和統(tǒng)計(jì)性。LIBSOPA-200的研制成功為材料成分分析,缺陷分析,涂鍍層等樣品的分析應(yīng)用提供了技術(shù)手段及質(zhì)量判據(jù)。 儀器特點(diǎn):
1. LIBS技術(shù)與OPA技術(shù)結(jié)合的分析儀器。
2. 多元素同時(shí)分析。28個(gè)元素通道,包含C,P,S元素,線(xiàn)性關(guān)系良好;
3. 預(yù)剝蝕時(shí)間,積分時(shí)間,門(mén)控延遲時(shí)間動(dòng)態(tài)可調(diào)。
4. 分析簡(jiǎn)便、快速,無(wú)前處理過(guò)程,避免樣品被污染;
5. 分析不受樣品尺寸,狀態(tài),導(dǎo)電性,難熔與否的影響;
6. LIBS具有高靈敏度與高空間分辨率,非常適合涂層材料、薄膜材料分析;
7. 微小燒蝕光斑可進(jìn)行局部微區(qū)分析,表面微損分析,適合材料缺陷分析;
8. 非接觸測(cè)量,響應(yīng)迅速,分析時(shí)間短,可滿(mǎn)足實(shí)時(shí)分析以及在線(xiàn)分析的要求。
產(chǎn)品詳情:
真空光學(xué)系統(tǒng) | 巴邢—龍格架法 | 光柵焦距 | 750 mm | 刻線(xiàn) | 2400條/mm |
譜線(xiàn)范圍 | 170 ~ 800 nm | 分辨率 | 0.01 nm | 電源 | 220V/20A |
尺寸 | 寬×深×高(155 cm×75 cm×160cm) | 重量 | 毛重約700 Kg |
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