輔光精密儀器（上海）有限公司
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近紅外高光譜分析儀采用高光譜成像系統(tǒng)（HSI）技術(shù),分析樣品化學(xué)成分和空間信息的產(chǎn)品信息,特別適合制藥,食品等質(zhì)量檢測(cè)和異物檢查
近紅外高光譜分析儀采用高光譜成像系統(tǒng)（HSI）技術(shù),分析樣品化學(xué)成分和空間信息的產(chǎn)品信息,特別適合制藥,食品等質(zhì)量檢測(cè)和異物檢查。
近紅外高光譜分析儀特點(diǎn)
連續(xù)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)
表面異物檢測(cè)
摻假檢測(cè)
不需要制備樣品
近紅外高光譜分析儀規(guī)格參數(shù)
速度：60米/分鐘
檢測(cè)能力：30噸/小時(shí)
功耗：2000W
傳送帶：400mm,500mm任選
控制：觸摸屏
重量：200kg
尺寸：1.8m x 1.9m x 1m
高光譜的異物發(fā)現(xiàn)
高光譜的異物發(fā)現(xiàn)
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