絕緣材料高頻介質(zhì)損耗測試裝置工作頻率范圍是1kHz～70MHz,它是根據(jù)串聯(lián)諧振原理，測試固態(tài)絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角（tanδ）和介電常數(shù)（ε），高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等.
本介質(zhì)損耗裝置中測試夾具是由測微平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)變化通過公式計算得到。同樣，由平板電容器的刻度讀數(shù)變化，通過公式計算得到介電常數(shù)。

   介電常數(shù)測試儀 介質(zhì)損耗測試儀   介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀  介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試裝置

                         
◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值讀取技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q 。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～70MHz,測試信號。
◎ 低至20nH殘余電感，保證高頻時直讀Q值的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ 獨立1kHz～70MHz信號源輸出口，所以本機又是一臺70MHz的合成信號源，頻率準確度±50ppm，穩(wěn)定度±10ppm。

◎ 介質(zhì)損耗裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求

  SB916介質(zhì)損耗測試裝置與2851D、2853D 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀及電感器配用，能對絕緣材料進行高頻介質(zhì)損耗角正切值和介電常數(shù)的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

2.1 平板電容器：

2.1.1 極片尺寸：

      SB916-38：Φ38mm， SB916-50：Φ50mm

2.1.2 極片間距可調(diào)范圍和分辨率：

      ≥10mm， ±0.005mm

2.2 夾具插頭間距：

    25mm±1mm

2.3 夾具損耗角正切值

    ≤2.5×10-4

 工作原理

   本測試裝置是由測微平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)變化，將測試數(shù)據(jù)輸入電腦，通過公式計算得到。同樣，由平板電容器的刻度讀數(shù)變化，通過公式計算得到介電常數(shù)。

    SB916D 介質(zhì)損耗測試裝置是由測微平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)變化,將測試數(shù)據(jù)輸入電腦，通過公式計算得到。同樣，由平板電容器的刻度讀數(shù)變化，通過公式計算得到介電常數(shù)。

產(chǎn)品工作特征

1.1 平板電容器：
1.1.1 極片尺寸：
  SB916D-38：Φ38mm.
  SB916D-50：Φ50mm.
1.1.2 極片間距可調(diào)范圍和分辨率：
  ≥8mm， ±0.002mm
1.2 夾具插頭間距：
  25mm±1mm
1.3夾具損耗角正切值
  ≤2.5×10-4