大型步入式老化房 返回列表頁

大型步入式老化房主要針對高性能電子產(chǎn)品（如：計算機(jī)整機(jī)，顯示器，終端機(jī)，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域

具有及寬的溫濕度控制范圍及尺寸大小可選擇，可滿足用戶的各種需要。采用*的平衡調(diào)溫調(diào)濕方式，可獲得安全、精確的溫濕度環(huán)境。具有穩(wěn)定、平衡的加熱、加濕性能，可進(jìn)行高精度、高穩(wěn)定的溫濕度控制。

裝配高精度智能化的溫度調(diào)節(jié)器，溫濕度采用韓國進(jìn)口全液晶控制顯示2700大屏幕可程序儀表（也可根據(jù)用戶的需求更換日本、中國臺灣、韓國液晶顯示可程序儀表）?？蛇x配溫濕度記錄儀。

根據(jù)功能需要，可選配計算機(jī)進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。

大型步入式老化房執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法

GBT 10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部份：試驗方法 試驗B：高溫IEC 60068-2-2：2007

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部份：試驗方法 試驗A：低溫IEC60068-2-1：2007

GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部份：試驗方法 試驗Cab:恒定溫?zé)嵩囼濱EC 60068-2-78：2001