DualScope MPOR 返回列表頁(yè)

DualScope MPOR

    用戶可以根據(jù)測(cè)量的需要選用不同的測(cè)厚儀，磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀一般測(cè)量的厚度適用0-5毫米，這類儀器又分探頭與主機(jī)一體型，探頭與主機(jī)分離型，前者操作便捷，后者適用于測(cè)非平面的外形。更厚的致密材質(zhì)材料要用超聲波測(cè)厚儀來(lái)測(cè)，測(cè)量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米。電解法測(cè)厚儀適合測(cè)量很細(xì)的線上面電鍍的金，銀等金屬的厚度。

    對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）。覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

DualScope MPOR

   采用根據(jù)DIN EN ISO 2360，ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DIN EN ISO 2178，ASTM B499電磁感應(yīng)方法，被用來(lái)測(cè)量非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上的厚度以及非鐵金屬鍍層和非導(dǎo)電涂層在鐵或鋼上的厚度。儀器能自動(dòng)地識(shí)別被測(cè)材料并選擇適合的測(cè)試方法。
DUALSCOPE MP0R USB 理想的適合于測(cè)量：
非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鐵或鋼上。
油漆、臘克和合成涂層在鐵或鋼上。
非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上，例如：油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上。
 

介紹

為快速且簡(jiǎn)便測(cè)量而設(shè)計(jì)。這一款經(jīng)濟(jì)型的儀器可以準(zhǔn)確地和方便地在2個(gè)液晶顯示器上顯示鍍層厚度的讀數(shù)：一塊大的位于前部面板，另一塊位于上部面板。它*的符合人類工程學(xué)設(shè)計(jì)的集成于儀器的恒壓測(cè)量探頭允許方便地單手操作，可以進(jìn)行測(cè)量數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)評(píng)估以及在10-20 m（33-66 feet）的距離范圍內(nèi)將測(cè)量數(shù)據(jù)在線或離線的無(wú)線傳輸至計(jì)算機(jī)的內(nèi)置無(wú)線電發(fā)射器。