Surtronic DUO分體式粗糙度測(cè)量?jī)x 返回列表頁

Surtronic DUO分體式粗糙度測(cè)量?jī)x

 Surtronic DUO粗糙度儀是英國(guó)泰勒公司新型粗糙度儀，SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測(cè)Ra，Rz兩種參數(shù)。DUO具有紅外接口可在距離被測(cè)物1米處進(jìn)行測(cè)量。

表面粗糙度基礎(chǔ)：

每個(gè)組件表面都會(huì)有一些紋理形狀因結(jié)構(gòu)和制造方式而有所差異。這些表面可以劃分為三個(gè)主要類別:粗糙度、波紋度和形狀。為了控制制造過程或預(yù)測(cè)組件在使用過程中的行為，有必要使用表面紋理參數(shù)對(duì)表面特征進(jìn)行量化。
表面紋理參數(shù)可分為三個(gè)基本類型:
振幅參數(shù)-測(cè)量表面偏差的垂直特征
間距參數(shù)-測(cè)量表面偏差的水平特征
混合參數(shù)-間距參數(shù)和振幅參數(shù)的組合
樣本長(zhǎng)度-輪廓會(huì)劃分為樣本長(zhǎng)度|，它的長(zhǎng)度足以容納進(jìn)行可靠的統(tǒng)計(jì)所需的數(shù)據(jù)量。對(duì)于粗糙度和波紋度分析，樣本長(zhǎng)度等于選擇的截止長(zhǎng)度。
截止長(zhǎng)度(Lc) -截止長(zhǎng)度是使用電子或數(shù)學(xué)方法移除或減少不必要的數(shù)據(jù)以查看重點(diǎn)區(qū)域的波長(zhǎng)的濾波器。樣本長(zhǎng)度也稱為截止長(zhǎng)度。
測(cè)定長(zhǎng)度-用于評(píng)估要測(cè)定輪廓的X軸方向的長(zhǎng)度。測(cè)定長(zhǎng)度可能包含-一個(gè)或多個(gè)樣本長(zhǎng)度。對(duì)于原始輪廓，測(cè)定長(zhǎng)度等于樣本長(zhǎng)度。
標(biāo)準(zhǔn)一適用時(shí)，泰勒●霍普森設(shè)備會(huì)遵從ISO3274-1996、ISO 4287-1997、ISO 4288-1996、ISO11562和其他標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的程序。

測(cè)量原理：

通過采用耐磨的金剛石測(cè)針部件，以及精密的機(jī)動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置，確保行進(jìn)正確的水平距離。當(dāng)測(cè)針劃過波峰和波谷時(shí)，高感應(yīng)度的壓電傳感器能檢測(cè)到它的垂直移動(dòng)，然后將機(jī)械移動(dòng)轉(zhuǎn)化為電子信號(hào)。電子信號(hào)將進(jìn)行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器，然后使用標(biāo)準(zhǔn)化算法即時(shí)計(jì)算表面粗糙度參數(shù)。