光潔度測試儀-TRIBOTOUCH 返回列表頁

光潔度測試儀-TRIBOTOUCH
非接觸式輪廓曲線的設(shè)計與優(yōu)異的用白色光軸向色差的技術(shù)優(yōu)勢。又稱彩色共焦技術(shù)，符合ISO和ASTM標(biāo)準。該技術(shù)測量一個物理波長直接關(guān)系到一個特定的高度，而無需使用任何復(fù)雜的算法。這將確保所有的表面測量結(jié)果的準確性。樣品的反射率不會產(chǎn)生什么影響，無需進行頻繁的校準，而且測量參數(shù)的變化也不會產(chǎn)生影響。利用光柵掃描時，表面光度儀可以進行2D和3D測量，可以對于應(yīng)用提供靈活的測量解決方案
儀器
P3/自動表面粗糙度測量
  特點：價格低廉、納米至微米表面粗糙度測量（ISO 25178）、全自動的觸摸屏、緊湊的設(shè)計
Jr25光學(xué)輪廓儀/便攜式功能
  特點：重量低于5.5Kg、封裝27cm×14cm、XY軸方向25mm×25mm、便攜式、非接觸式3D測量能力
PS50光學(xué)輪廓儀/價格低廉
  尺寸緊湊、XY軸方向50mm×50mm、可升級取代光筆和激光分析器、價格實惠、技術(shù)
ST400光學(xué)輪廓儀/Nanovea標(biāo)準
  XY軸方向150mm×150m、多種選擇、寬敞的平臺區(qū)域為*的樣品尺寸所設(shè)計、圖像模式識別
HS1000光學(xué)輪廓儀/高速自動檢查
光潔度測試儀-TRIBOTOUCH應(yīng)用
        
粗糙度、質(zhì)地                            輪廓、尺寸                              彎曲、平面度
 
 
 
        
地形、形狀                               體積、面積                              高度、厚度
特點：
 

 
可選筆

 
選項：

1. 光筆

Nanovea光筆不受樣品反射率的影響。變化無需樣品制備，并擁有*測量高表面角度的能力。能夠進行大的Z范圍的測量。測量任何材質(zhì)：透明/不透明，鏡面/擴散，拋光/粗糙?？焖俜治鰟潅?，壓痕和磨損在3D精密光學(xué)下的結(jié)果。為不同的的動態(tài)垂直測量選擇大的筆。優(yōu)良垂直和空間分辨率
  可選擇大的光筆、無需制備樣品、高表面角度的能力、可測量任何樣品表面

1. AFM模塊

AFM對于確定測量范圍是很有效的。提供了快速從光學(xué)輪廓儀測量的被選擇區(qū)域移動到的AFM三維測量在較高的水平和垂直分辨率的使用能力。 AFM測量是無損的，不需要樣品制備。AFM的設(shè)計容易記住使用并且與市場上zui簡單探測進行交流。AFM要分開安裝，并提供一個友好的安裝避免纜線纏繞，在顯微鏡安裝在AFM上是一個問題。標(biāo)準模式：靜力（接觸）、恒力、恒定高度。擴展模式：動態(tài)力（斷續(xù)接觸等） ：恒振幅，恒定高度、靜力：力調(diào)制模式，擴展電阻。動態(tài)力：相襯，磁力，靜電力。
  掃描區(qū)域可達110μm、Z范圍可達22μm、XY分辨率可達0.15nm、Z分辨率可達0.027nm

1. 光學(xué)成像

視頻變焦相機提供通過現(xiàn)場攝像機視圖來衡量選擇一個區(qū)域的可用性，相機補償?shù)焦鈱W(xué)筆在Nanovea 3D軟件校準的距離下。在11.42毫米到1.77毫米對角線場中完成手動或電動變焦能力。在軟件中可以使用視頻選擇功能視頻選項將允許用戶繪制圍繞一種測量過的特點，取表面的圖像和合并多個圖像創(chuàng)建表面的大圖片。增加相機選項時，包含了模式識別軟件。

1. 顯微成像

該轉(zhuǎn)塔顯微鏡含有選擇的顯微鏡的所有功能，如偏光器和分析器幻燈片。轉(zhuǎn)塔顯微鏡可配zui多5個顯微鏡物鏡，從5倍到100倍，圖像可以zui多放大4000倍。當(dāng)需要高的細節(jié)層次轉(zhuǎn)塔顯微鏡可以用來解決任何表面的小的特征。