四探針金屬/半導體電阻率測量儀 金屬電阻率測定儀
型號：SN/SB100A/2
SB100A/2為原SB100/1及SB100A/1的改進型。
四探針金屬/半導體電阻率分析儀由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要，本儀器采用四探針法原理來實現(xiàn)對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻及電阻率的測量。可用于高校物理教育實驗，對導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達10-6—106Ω。
（使用環(huán)境5—40℃，相對濕度<80%，供電220V 50Hz，為實驗室環(huán)境使用）
四探針金屬/半導體電阻率分析儀、PZ158A直流數(shù)字電壓表、SB120/2四探針樣品測試平臺三部分組成。
l SB118直流電壓電流源：是一臺4?位的電壓源及電流源，既可輸出5μV—50V，5檔可調(diào)電壓，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA—100mA，5檔可調(diào)電流，基本誤差為±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產(chǎn)品SB118。
l ：具有6?位字長，0.1μV電壓分辨力的帶單片危機處理技術的高精度電子測量儀器，可測量0-1000V直流電壓。基本量程的基本誤差為±（0.002%RD+0.0005%FS），詳見本公司產(chǎn)品PZ158A。
l SB120/2四探針樣品測試平臺：該測試平臺 SB120/1測試平臺的改進型。其有底座、支架、旋動部件、樣品平臺、四探針及接線板等組成。由于其整個結構及旋動方式都在原SB120/1的基礎上作了很大的改進，故在高校的物理實驗及科學研究總為導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便。
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