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套管絕緣電阻試驗(yàn)1. 基本知識(shí)在電壓作用下,電介質(zhì)產(chǎn)生一定的能量損耗,這部分損耗稱試驗(yàn)介質(zhì)損耗或介質(zhì)損失,產(chǎn)生介質(zhì)損耗的原因主要是電介質(zhì)電導(dǎo)、極化和局部放電。2...
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