X熒光光譜儀的優(yōu)勢

2022

06-17

16:20:02

 512

來源：化工儀器網(wǎng)

X熒光光譜儀分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。

非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結果重現(xiàn)性好。

X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

分析精密度。

制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

全年征稿/資訊合作 聯(lián)系郵箱：137230772@qq.com

版權與免責聲明

1、凡本網(wǎng)注明"來源：興旺寶"的所有作品，版權均屬于興旺寶，轉載請必須注明興旺寶，http://m.dunya.com.cn/。違反者本網(wǎng)將追究相關法律責任。

2、企業(yè)發(fā)布的公司新聞、技術文章、資料下載等內(nèi)容，如涉及侵權、違規(guī)遭投訴的，一律由發(fā)布企業(yè)自行承擔責任，本網(wǎng)有權刪除內(nèi)容并追溯責任。

3、本網(wǎng)轉載并注明自其它來源的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內(nèi)容的真實性，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品來源，并自負版權等法律責任。

4、如涉及作品內(nèi)容、版權等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關權利。