奧林巴斯XRF分析儀如何測(cè)量涂層的厚度？

    我們的客戶使用Vanta手持式X射線熒光（XRF）分析儀可以確定合金、金屬、土壤及其它材料的化學(xué)成分。但是，您可否知道我們奧林巴斯的分析儀還可以測(cè)量涂層的厚度？配備了涂層方式的Vanta分析儀可以測(cè)量金屬、塑料、玻璃，甚至木材表面的涂層厚度，且可測(cè)量多層涂層的厚度。

涂層材料無(wú)處不在

      涂層具有裝飾、保護(hù)或其他功能性作用。例如：汽車(chē)工業(yè)中使用的涂層可以起到防腐蝕、裝飾、防磨損，以及保護(hù)電子器件的作用。同樣，航空航天工業(yè)使用的涂層有助于減少阻力，防止出現(xiàn)殘?jiān)槠头e累的污垢，從而可以降低燃料的消耗。 

      工業(yè)產(chǎn)品普遍使用涂層，因?yàn)榇蠖鄶?shù)涂層都起到了非常重要的作用。鎳具有堅(jiān)韌、耐用、延展性好的特性，因而成為一種廣受歡迎的涂料。根據(jù)ASTM針對(duì)鋼材料產(chǎn)品的優(yōu)質(zhì)表面處理所*的標(biāo)準(zhǔn)，烤面包機(jī)、華夫餅機(jī)、烤肉機(jī)，以及類似的電器用品都應(yīng)該使用約10微米的鎳涂層。鎳還具有防潮的性能，因此爐灶的上表面、家具、浴室配件和廚柜也會(huì)使用鎳涂層。另一種廣受歡迎的涂料是鉻，鉻與鎳的性能相似，而且，具有更強(qiáng)的抗腐蝕和抗磨損的性能。

使用涂料的其他常見(jiàn)應(yīng)用包括：

• 屏蔽電子器件：導(dǎo)電的涂層用于屏蔽塑料設(shè)備

• 建筑飾面：涂層可以保護(hù)鋼鐵材料免受銹蝕，避免銅和黃銅材料失去光澤，避免鋅材和鋁材出現(xiàn)污漬

• 太陽(yáng)能電池：許多太陽(yáng)能電池覆蓋有薄合金或聚合物涂層

• 工具鋼：鈦制和鎢制硬質(zhì)合金有助于增加防磨性和耐用性

• 電氣布線：鋅涂層和鎳涂層正在取代過(guò)去的鎘涂層

• XRF分析儀如何測(cè)量涂層厚度

•      準(zhǔn)確的厚度測(cè)量結(jié)果有助于制造商提供質(zhì)量上乘的產(chǎn)品，同時(shí)還可以控制成本。涂層的厚度應(yīng)該恰到好處；產(chǎn)品的涂層太厚會(huì)增加制造成本?？蛻魧?duì)來(lái)料進(jìn)行質(zhì)量控制時(shí)，也會(huì)對(duì)涂層進(jìn)行檢測(cè)：確保所接收來(lái)料使用的是正確的涂層材料，且涂層的厚度準(zhǔn)確無(wú)誤。

  　　取決于不同的材料，奧林巴斯Vanta手持式XRF分析儀可以測(cè)量范圍從0.00到約60.00微米的涂層厚度。分析儀發(fā)出X射線，X射線撞擊到被測(cè)樣本，使樣本發(fā)出熒光。分析儀探測(cè)到返回的X射線，并使用獲得的數(shù)據(jù)計(jì)算涂層的厚度。

  　　根據(jù)材料工程師和科學(xué)家協(xié)會(huì)（ASM）的防腐和防磨表面工程要求，屬于這個(gè)范圍的各種表面工程技術(shù)包括電鍍（機(jī)械、化學(xué)、電解）、蒸發(fā)（化學(xué)和物理沉積）和粘合（樹(shù)脂或漆料）。

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  Vanta分析儀多可檢測(cè)三層材料的厚度
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• 奧林巴斯XRF涂層厚度的優(yōu)勢(shì)
•     使用一款可以快速、有效地完成無(wú)損檢測(cè)的工具，有助于在生產(chǎn)線和野外的工作人員做好產(chǎn)品的質(zhì)量控制工作。奧林巴斯手持式Vanta分析儀可以在10秒鐘的短時(shí)間內(nèi)提供檢測(cè)結(jié)果，而且通過(guò)30秒鐘就能完成的單點(diǎn)校準(zhǔn)可以對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行完善。手持式XRF分析儀也不會(huì)損壞被測(cè)材料。

• 　由于手持式分析儀具有小巧、便攜的特性，因此可以非常方便地檢測(cè)較大的樣本，而使用臺(tái)式分析儀對(duì)這類較大的樣本進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，可能需要對(duì)樣本進(jìn)行切割，才能將樣本放入分析儀中。

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  鍍層測(cè)試結(jié)果界面簡(jiǎn)潔明了

• Vanta分析儀的鍍層模式

• 元素配置：可分析的元素為原子數(shù)大于鈦的元素，包括鈦元素。同一種元素不能在多個(gè)涂層中被重復(fù)分析，包括基底材料。

  可選的實(shí)證單點(diǎn)校準(zhǔn)：用戶可以使用一種內(nèi)部認(rèn)證的樣本對(duì)校準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)整。

  層的數(shù)量：Vanta分析儀的鍍層模式可以多測(cè)量3層材料的厚度，不過(guò)各層材料要足夠薄，以使X射線從底層材料返回到探測(cè)器。

  基底：可以分析任何基底材料，只要基底材料中不包含涂層材料中存在的元素。

   

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