根據(jù)國家?guī)垐霰O(jiān)督管理總局下達的國家計量技術規(guī)范制修訂計劃,全國光學計量技術委員會已完成《硅光電倍增器參數(shù)》國家計量技術規(guī)范的征求意見稿。為了使國家計量技術規(guī)范能廣泛適用和更具操作性,特向全國有關單位征求意見和建議。
SiPM 實質(zhì)上是在硅片上以并聯(lián)形成集成的成千上萬個工作在蓋格模式下的探測器。相較于傳統(tǒng)光電倍增管,優(yōu)勢在于其具有更大的增益、更高的光子探測效率、更寬的動態(tài)范圍和更快的響應速度,特別是其增益對磁場不敏感。
SiPM 的應用效果依賴其性能,如何表征 SiPM 不僅是 SiPM 應用者更是 SiPM 研發(fā)人員必須面對的課題。全面表征 SiPM 的性能可引入的光電參量很多。電學性能主要體現(xiàn)在其 IV 特性,包括擊穿電壓、過偏壓、增益、光學串話率、后脈沖率、恢復時間等;光學性能主要包括暗計數(shù)、光子探測效率、動態(tài)范圍、單光子時間分辨率等。從應用和研發(fā)角度講,電學性能參數(shù)主要體現(xiàn) SiPM 的工作狀態(tài),而才更能體現(xiàn)品質(zhì)。因此本規(guī)范將校準的對象聚焦在 SiPM 的光學性能參數(shù)上。
本規(guī)范為初次制定。JJF 1001《通用計量術語及定義》、JJF 1032《光學輻射計量名詞術語及定義》、JJF 1059.1《測量不確定評定與表示》和 JJF 1071《國家計量校準規(guī)范編寫規(guī)則》共同構成支撐本規(guī)范編訂的基礎性系列規(guī)范。
依據(jù) JJF 1071《國家計量校準規(guī)范編寫規(guī)則》,本規(guī)范主要內(nèi)容包括:范圍;術語;概述;計量特性;校準條件;外觀要求;校準方法;校準結果;復校時間間隔以及附錄A、B、C、D等內(nèi)容。
校準環(huán)境條件:
校準環(huán)境溫度23℃±5℃;相對濕度<70%。校準環(huán)境應備置遮光設施,防止其它強光源直射校準設備。
測量標準及其他設備:
用于硅光電倍增器參數(shù)校準的設備包括:已知響應度的光電倍增管(PMT)或硅光電池(PIN)、三窗積分球、發(fā)光二極管、激光器、發(fā)光二極管(LED)、信號發(fā)生器、微電流計、高速示波器、穩(wěn)壓電源、高壓電源。
校準結果:
校準結果應在校準證書上反映。校準證書應至少包括以下信息:a)標題:“校準證書”;b)實驗室名稱和地址;c)進行校準的地點(如果與實驗室的地址不同);d)證書的唯一性標識(如編號),每頁及總頁數(shù)的標識;e)客戶的名稱和地址;f) 被校對象的描述和明確標識;g)進行校準的日期,如果與校準結果的有效性和應用有關時,應說明被校對象的接收日期;h)如果與校準結果的有效性應用有關時,應對被校樣品的抽樣程序進行說明;i) 校準所依據(jù)的技術規(guī)范的標識,包括名稱及代號;j) 本次校準所用測量標準的溯源性及有效性說明;k)校準環(huán)境的描述;l) 校準結果及其測量不確定度的說明;m) 對校準規(guī)范的偏離的說明;n)校準證書或校準報告簽發(fā)人的簽名、職務或等效標識;o)校準結果僅對被校準對象有效的聲明;未經(jīng)實驗室書面批準,不得部分復制證書的聲明。
復校時間間隔:
硅光電倍增器的建議復校時間間隔為二年。由于器件保持量值穩(wěn)定性的狀況不但與器件自身的品質(zhì)相關,也與器件的保存和使用條件以及使用者的水平等諸多因素緊密關聯(lián),因此,送校單位可根據(jù)實際使用情況自主決定硅光電倍增器的復校時間間隔。
本規(guī)范適用于寬波段輻照計的校準。
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