預(yù)冷預(yù)熱沖擊試驗(yàn)箱改設(shè)備是主要做沖擊試驗(yàn)的，就是個箱子里面有兩個區(qū)域，個給預(yù)冷個給預(yù)熱，等到測試得時間就把預(yù)冷好溫度或預(yù)熱區(qū)的溫度放出來，他的是功能高溫轉(zhuǎn)至低溫之間可以在很快時間內(nèi)沖擊完成試驗(yàn)。
預(yù)冷預(yù)熱沖擊試驗(yàn)箱目適用的行業(yè)及產(chǎn)品有光電、LED、顯示器、顯示屏連接器，PCB連接器，F(xiàn)PC，電感器，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，太陽能組件，光伏組件，光纖，LCD，PCB，F(xiàn)PC，微電子，電機(jī)，汽車燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。從很低到很高的溫度包括中間的任意溫度均可隨意設(shè)定恒溫或者沖擊試驗(yàn)。
制冷低溫區(qū) | 溫度暴露范圍 | 0℃/-65℃ | ||
預(yù)熱溫度下限 | -75℃ | |||
溫度波動范圍 | ≤±0.5℃ | |||
溫度降溫時間 | -75℃≤60min | |||
加熱高溫區(qū) | 溫度暴露范圍 | 60℃~150℃ | ||
預(yù)熱溫度上限 | 200℃ | |||
溫度波動范圍 | ≤±0.5℃ | |||
溫度上升時間 | 室溫200℃≥45min | |||
性能指標(biāo) | 溫度測試范圍可選 | A:-40℃～150℃ B:-40℃～150℃C:-65℃～150℃ | ||
溫度均勻動 | 高溫室及低溫室均≤±2℃ | |||
樣品區(qū)承重 | 30kg | 30kg | 30kg | |
溫度運(yùn)行控制系統(tǒng) | 主要控制器 | 日本/韓/中中國臺灣(可選擇）進(jìn)口LED數(shù)顯(P、I、D +S、S、R.)微電腦集成控制器 | ||
精度范圍 | 設(shè)定浮動度：溫度±0.2℃，指示精度：溫度±0.1℃，分辨率：0.01℃ | |||
制冷系統(tǒng) | 進(jìn)口德比澤爾半封閉水冷式壓縮機(jī)組或原裝法“泰康”/封閉風(fēng)冷壓縮制冷機(jī)組 | |||
循環(huán)系統(tǒng) | 耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪 | |||
溫度轉(zhuǎn)換時間 | 從制冷低溫區(qū)到加熱高溫區(qū)或從加熱高溫區(qū)到制冷低溫區(qū)≤10S | |||
溫度恢復(fù)時間 | ≤5min(冷熱溫度沖擊機(jī)|高低溫溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)的恢復(fù)時間與暴露溫差、冷卻水溫、恒溫時間、樣品重量有關(guān)) | |||
預(yù)冷預(yù)熱沖擊試驗(yàn)箱本設(shè)備滿足：GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫；GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫；GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則；GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備。
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