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**環(huán)境條件的可重復性。環(huán)境試驗設備施用于被試驗產(chǎn)品的應力水平對于同一試驗規(guī)范的要求是*的。
**環(huán)境條件參數(shù)的可測控性。防止環(huán)境條件失控導致被試產(chǎn)品的損壞,帶來不必要的損失。
**環(huán)境試驗條件的排它性。除提供所規(guī)定的環(huán)境條件外,不允許對被試產(chǎn)品附加其它的環(huán)境應力干擾。
**試驗設備的安全可靠性。保證試驗人員、被試產(chǎn)品和試驗設備本身的安全可靠性。
相關標準:
1. GB 6587.2-1986 電子測量儀器 溫度試驗
2. GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備
3. GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備
4. GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件
5. GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
6. GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術條件
7. GB/T 2423.1-2008 idt IEC 60068-2-1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
8. GB/T 2423.2-2008 idt IEC 60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
9. GB/T 2423.3-2006 idt IEC 60068-2-78:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗
10. GB/T 2423.4-2008 idt IEC 60068-2-30:2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗Db:交變濕熱試驗(12h+12h循環(huán))
11. GB/T 2424.5-2006 idt IEC 60068-3-5:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認
12. GB/T 2424.6-2006 idt IEC 60068-3-6:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度 濕度試驗箱性能確認
13. GJB 150.3-1986 軍用設備環(huán)境試驗方法 高溫試驗
14. GJB 150.4-1986 軍用設備環(huán)境試驗方法 低溫試驗
15. GJB 150.9-1986 軍用設備環(huán)境試驗方法 濕熱試驗
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