MC-2000C涂層測厚儀覆層測厚儀價(jià)格應(yīng)用范圍

涂層測厚儀儀器采用磁性測厚法，可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

MC-2000C涂層測厚儀覆層測厚儀價(jià)格工作原理

 MC-2000C型涂鍍層測厚儀采用電磁感應(yīng)法測量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭

產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂鍍層厚度。

MC-2000C涂層測厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)

輕松讀?。?/span>可存入測量數(shù)據(jù)600個(gè)，對測量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，讀出已存入的測量數(shù)據(jù)。

二、MC-2000C涂層測厚儀產(chǎn)品性能

1、測量范圍：　　0～5000um

2、測量誤差：　　<3%±1um

3、zui小示值：　　1um

4、顯示方式：    4位液晶數(shù)字顯示

5、主要功能：

   (1).測量：   　  單探頭全量程測厚

   (2).存儲(chǔ)、刪除： 可存入測量數(shù)據(jù)600個(gè)，對測量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。

   (3).讀：　 讀出已存入的測量數(shù)據(jù)

   (4).統(tǒng)計(jì)： 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值zui大值zui小值

   (5).校準(zhǔn)： 可進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)

   (6).電量： 具有欠壓顯示功能

   (7).打?。?/span> 可打印測量值，選配微型打印機(jī)

   (8).關(guān)機(jī)： 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法

6、電源：    　　　  兩節(jié)1.5v電池

7、功耗：      　　　zui大功耗100mw

8、外形盡寸：    　51mm*126mm*27mm

9、重量：　　　　　 160g（含電池）

10、使用環(huán)境溫度：　0℃～+40℃  相對濕度：不大于90%

11、基體zui小厚度：     0.5mm

12、基體zui小平面的直徑：   7mm

13、zui小曲率半徑：     凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示：       右上角顯示＂＂

*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí),其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度

三、MC-2000C型涂層測厚儀配置單

 MC-2000C說明書下載

   1、MC-2000C型涂鍍層測厚儀                 一臺(tái)

   2、七號(hào)電池                               二節(jié)

   3、探頭                                   一支

   4、標(biāo)準(zhǔn)樣片                               一盒

   5、小鋁箱                                 一個(gè)

   6、說明書、合格證                         一套

 選配件：                                                              

    1、打印機(jī)及通訊打印連線                  1套 

    2、微機(jī)通訊軟件                          1盤

1. 內(nèi)防腐探頭

注意事項(xiàng)：

（１）測量曲面及圓柱體，曲率半徑較小時(shí)，應(yīng)在未涂覆的工件上校準(zhǔn)，以保證測量精度。

（２）在曲率半徑較小的凹面內(nèi)測量時(shí)，應(yīng)重新校正。

五、影響測量的若干因素：

基體金屬磁化：磁性法測量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上 對儀器進(jìn)行校對。

基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測量就不受基體厚度的影響。

邊緣效應(yīng)：本儀器對試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。

曲率：試件的曲率對測量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。

表面粗糙度：基體金屬和表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測量時(shí)，在不同位置上增加測量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。

如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對儀器零點(diǎn)。

磁場：周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測量厚度的工作。

附著物質(zhì)：本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

探頭的放置：探頭的放置方式對測量有影響，在測量中使探頭與試樣表面保持垂直。

試片的變形：探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。

讀數(shù)次數(shù)：通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個(gè)測量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。