MCW-3000A涂層測(cè)厚儀生產(chǎn)廠(chǎng)家儀器特點(diǎn)

MCW-3000A(渦流)涂層測(cè)厚儀它采用科電技術(shù)，具有精度高、示值穩(wěn)定、功耗低、分辨率高、操作界面人性化等特點(diǎn)。其新增加的功能包括：分批組管理數(shù)據(jù)、多種在線(xiàn)監(jiān)控測(cè)量模式、多種校準(zhǔn)方式等，使儀器更加適合工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)的工作需求，給客戶(hù)了提供更多的便利。其性能已達(dá)到當(dāng)代同類(lèi)儀器的*水平

MCW-3000A涂層測(cè)厚儀生產(chǎn)廠(chǎng)家產(chǎn)品簡(jiǎn)介

MCW-3000A（渦流）涂層測(cè)厚儀，采用渦電流測(cè)量原理,可以方便無(wú)損地測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等金屬上的油漆、橡膠、塑料、氧化膜等）。

MCW-3000A涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品性能
該系列產(chǎn)品均采用*的偏差自動(dòng)跟蹤技術(shù)使測(cè)量值更加精準(zhǔn)，探頭采用德國(guó)工藝標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行加工，并使用新型合金材料使探頭的使用壽命大幅度提升。

MCW-3000A渦流涂層測(cè)厚儀基工作原理

MCW-3000A渦流涂鍍層測(cè)厚儀的基本工作原理是,當(dāng)測(cè)頭與被測(cè)式樣接觸時(shí),測(cè)頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場(chǎng), 使置于測(cè)頭下的金屬導(dǎo)體產(chǎn)生渦流,其振幅和相位是導(dǎo)體與測(cè)頭之間非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù). 而測(cè)頭參數(shù)變量的大小,并將這一電信號(hào)轉(zhuǎn)換處理,即可得到被測(cè)涂鍍層的厚度

MCW-3000A涂層測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域

涂鍍層測(cè)厚儀是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用型便攜式測(cè)量?jī)x，能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量，既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域，是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)*的儀器。

主要性能： 

● 基本測(cè)量模式：常規(guī)模式，zui小值模式，統(tǒng)計(jì)模式

● 監(jiān)控測(cè)量模式：可進(jìn)行差值設(shè)置，上下限報(bào)警設(shè)置

● 可選擇刪除存儲(chǔ)單個(gè)數(shù)據(jù)或某一組數(shù)據(jù)或全部數(shù)據(jù)

● 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)

● 可設(shè)置關(guān)機(jī)方式，背光開(kāi)或閉，恢復(fù)出廠(chǎng)狀態(tài)

● 可打印存儲(chǔ)值，也可打印統(tǒng)計(jì)值

● 分組存儲(chǔ)數(shù)據(jù)共6組，每組存99個(gè)測(cè)量點(diǎn)

● 可分組查看存儲(chǔ)測(cè)量值

MCW-3000A涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：

● 測(cè)量范圍：0-1200μm

● zui高顯示精度： 0.1μm

● 欠電壓顯示：左上角顯示

● 顯示方式：3位液晶數(shù)字顯示

● 尺寸/重量：146×81×30MM  260克● 可選附件：打印機(jī)及通訊打印連線(xiàn) 、微機(jī)通訊軟件、內(nèi)防腐探頭
    

● 標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、探頭、標(biāo)準(zhǔn)樣片、說(shuō)明書(shū) 、保修卡、合格證 、五號(hào)電池、手提箱

．影響因素的有關(guān)說(shuō)明

a 基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

b 基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

c 基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。

d 邊緣效應(yīng)

本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

e 曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

f 試件的變形

測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。

g 表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

g 磁場(chǎng)

周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。

h 附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

測(cè)頭壓力

測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

 測(cè)頭的取向

測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。