青島 淄博 棗莊MC-2000C漆膜測(cè)厚儀0-9000um產(chǎn)品特點(diǎn)

輕松讀取：可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)。

1、測(cè)量范圍：

MC-2000 A 型測(cè)量范圍：0-1500um
MC-2000 C 型測(cè)量范圍：0-5000um
MC-2000 D 型測(cè)量范圍：10-9000um 
可訂做管道內(nèi)涂（鍍）層測(cè)頭，30mm管徑以上

2、測(cè)量誤差：　　<3%±1um

3、zui小示值：　　1um

4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示

青島 淄博 棗莊MC-2000C漆膜測(cè)厚儀0-9000um產(chǎn)品概述

MC-2000D型涂層測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀）測(cè)量范圍：10～9000um，它是*的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)校準(zhǔn)，其性能達(dá)到當(dāng)代同類儀器的*水平。

二、MC-2000C涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品性能

1、測(cè)量范圍：　　0～5000um

2、測(cè)量誤差：　　<3%±1um

3、zui小示值：　　1um

4、顯示方式：    4位液晶數(shù)字顯示

5、主要功能：

   (1).測(cè)量：   　  單探頭全量程測(cè)厚

   (2).存儲(chǔ)、刪除： 可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。

   (3).讀：　 讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)

   (4).統(tǒng)計(jì)： 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值z(mì)ui大值z(mì)ui小值

   (5).校準(zhǔn)： 可進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)

   (6).電量： 具有欠壓顯示功能

   (7).打?。?可打印測(cè)量值，選配微型打印機(jī)

   (8).關(guān)機(jī)： 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法

6、電源：    　　　  兩節(jié)1.5v電池

7、功耗：      　　　zui大功耗100mw

8、外形盡寸：    　51mm*126mm*27mm

9、重量：　　　　　 160g（含電池）

10、使用環(huán)境溫度：　0℃～+40℃  相對(duì)濕度：不大于90%

11、基體zui小厚度：     0.5mm

12、基體zui小平面的直徑：   7mm

13、zui小曲率半徑：     凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示：       右上角顯示＂＂

*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí),其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度 

MC-2000D涂層測(cè)厚儀應(yīng)用范圍

    本儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該涂層測(cè)厚儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

MC-2000D涂層測(cè)厚儀工作原理：

    MC-2000D型涂（鍍）層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。

MC-2000D涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品性能

1、測(cè)量范圍： 10～9000um

2、測(cè)量誤差： <3%±1um

3、zui小示值：　　1um

4、顯示方式：    4位液晶數(shù)字顯示

5、主要功能：

   (1).測(cè)量：   　  單探頭全量程測(cè)厚

   (2).存儲(chǔ)、刪除： 可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。

   (3).讀：　 讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)

   (4).統(tǒng)計(jì)： 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值z(mì)ui大值z(mì)ui小值

   (5).校準(zhǔn)： 可進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)

   (6).電量： 具有欠壓顯示功能

   (7).打?。?可打印測(cè)量值，選配微型打印機(jī)

   (8).關(guān)機(jī)： 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法

6、電源：    　　　  兩節(jié)1.5v電池

7、功耗：      　　　zui大功耗100mw

8、外形盡寸：    　51mm*126mm*27mm

9、重量：　　　　　 160g（含電池）

10、使用環(huán)境溫度：　0℃～+40℃  相對(duì)濕度：不大于90%

11、基體zui小厚度：     0.5mm

12、基體zui小平面的直徑：   7mm

13、zui小曲率半徑：     凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示：       右上角顯示＂＂

*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí),其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度

哈爾濱MC-2000D漆膜測(cè)厚儀價(jià)格0-9000um配置單

 MC-2000D說(shuō)明書(shū)下載

    1、MC-2000D型涂鍍層測(cè)厚儀                一臺(tái)

    2、七號(hào)電池                              二節(jié)

    3、探頭                                  一支

    4、標(biāo)準(zhǔn)樣片                              一盒      

    5、小鋁箱                                一個(gè)

    6、說(shuō)明書(shū)、合格證                        一套

 選配件：                                                               

    1、打印機(jī)及通訊打印連線                   1套  

    2、微機(jī)通訊軟件                           1盤

    3、內(nèi)防腐探頭

售后承諾
    我們的每一臺(tái)產(chǎn)品出廠時(shí)都經(jīng)過(guò)了嚴(yán)格的質(zhì)量檢驗(yàn)。
    我們?yōu)樗袃x器提供了可靠的質(zhì)量和高度責(zé)任感的服務(wù)。該儀器享受一年的保修期,主機(jī)質(zhì)量引起的故障返本公司兩次以上，予以更換新機(jī)。
    本公司產(chǎn)品終身維護(hù),保修條款以隨機(jī)保修書(shū)為準(zhǔn)。
我公司長(zhǎng)期提供【供應(yīng)MC-2000D涂層測(cè)厚儀】，價(jià)格低廉，

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。
測(cè)量注意事項(xiàng)：
⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
⒌測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。