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優(yōu)質(zhì)高低溫沖擊試驗(yàn)箱

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)AP-CJ

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地東莞市

更新時(shí)間:2022-03-05 14:00:01瀏覽次數(shù):7次

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優(yōu)質(zhì)高低溫沖擊試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)有以下:GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫;

優(yōu)質(zhì)高低溫沖擊試驗(yàn)箱常用于自動(dòng)化零部件、電子電器零組件、汽車(chē)配件、通訊組件、金屬、塑膠等行業(yè)產(chǎn)品及零配件,半導(dǎo)體陶瓷、電子芯片IC及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)沖擊力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的實(shí)際質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)一不需要它作為理想的測(cè)試設(shè)備。
主要技術(shù)參數(shù):
1.內(nèi)箱尺寸:600*500*500MM(W*H*D)(更大的尺寸或者更小的尺寸都可以致電愛(ài)佩定制)
2. 外部尺寸:1830*1950*1550 MM(W*H*D)(一般外尺寸會(huì)有一點(diǎn)點(diǎn)偏差屬于正?,F(xiàn)象)
3.試驗(yàn)箱溫度設(shè)定范圍:-65℃~+150℃
4.高溫箱溫度設(shè)定范圍: +65℃~200℃
5. 低溫箱溫度設(shè)定范圍:-10℃~-75℃;
6.降溫時(shí)間:+20℃~-75℃≤60min;
  (注:降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能并非沖擊時(shí)間)
7.試驗(yàn)方式:試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物試驗(yàn)箱里靜靜的擺放著,溫度在高溫箱及低溫箱內(nèi)受試驗(yàn)條件及控制器指標(biāo)根據(jù)冷熱沖擊要求通過(guò)氣體分別把冷熱溫度帶動(dòng)過(guò)來(lái)完成交替沖擊的試驗(yàn)條件。
8.溫度波動(dòng)度:±0.5℃
9.溫度均勻度: ±2.0℃
(依量測(cè)規(guī)范:量測(cè)SENSOR置放點(diǎn),離內(nèi)箱壁內(nèi)尺寸1/10處)
10.沖擊復(fù)歸時(shí)間:-55℃~150℃約需3~5分鐘
11.試驗(yàn)箱冷熱溫度轉(zhuǎn)換移動(dòng)時(shí)間:≦10秒
12.高低溫沖擊恒溫時(shí)間各為30分鐘
13.試樣限制:本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存;腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存;生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存;強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。
優(yōu)質(zhì)高低溫沖擊試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)有以下:
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式;SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備;GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則;GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn);GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn);IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估;QC/T 17-1992 汽車(chē)零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則 汽車(chē)行業(yè)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

 

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