陜西恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》
陜西恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱有很多種類型,高低溫老化試驗(yàn)箱就是其中一種,小型恒溫老化箱主要是給硅膠禮品、橡膠制品、硅膠飾品、數(shù)碼配件、電子產(chǎn)品、電器產(chǎn)品、光電產(chǎn)品等工業(yè)產(chǎn)品檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)是否能適應(yīng)在高溫或者低溫或者高低溫(交變)循環(huán)變化下的使用、生產(chǎn)、檢測及儲存。本設(shè)備具備有單獨(dú)高溫老化的功能、也具備單獨(dú)低溫老化,還可高低溫交變老化、高低溫循環(huán)老化、高低溫恒定老化等功能。高低溫老化試驗(yàn)箱有模擬大氣環(huán)境中高低溫溫度的變化規(guī)律。主要針對于工業(yè)成品或者半成品以及其元器件及其它材料在高溫、低溫綜合環(huán)境下的適應(yīng)性試驗(yàn)。常用于工業(yè)產(chǎn)品鑒定,設(shè)計(jì),改進(jìn)及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法:濕熱試驗(yàn)》
GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-2008(IEC68-2-3)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da:交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)
陜西恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱選型資料:
常規(guī)型號有: AP-HX-80D;AP-HX-100D;AP-HX-150D;AP-HX-225D;AP-HX-408D;AP-HX-800D;AP-HX-1000D
工作室內(nèi)箱尺寸寬*高*深(cm): 40*50*40;50*50*40;50*60*50;50*75*60;60*85*80;100*100*800;100*100*100;
設(shè)備內(nèi)箱尺寸寬*高*深(cm)約: 98*135*98;105*147*105;108*150*108;107*160*119;120*173*128;156*183*130;157*186*150;
功率: 因?yàn)椴煌某叽缗洳煌臏囟确秶β蕰兴煌?,請根?jù)愛佩廠家提供的技術(shù)規(guī)格書上的為準(zhǔn)。
溫度可選擇范圍: A:0℃~150℃ B:-20℃~150℃ C:-40℃~150℃ D:-70℃~150℃(每個尺寸都可以配這些溫度范圍中的其中一段)
均勻度/波動度: ±2℃/±0.5℃
升溫速率: 1.0~3.0℃/min
降溫速率: 0.7~1.0℃/min
控制器: 進(jìn)口LED數(shù)顯P.I.D + S.S.R.微電腦集成控制器(可編程)
精度范圍: 設(shè)定精度:溫度±0.1℃,指示精度:溫度±0.1℃,分辨率:0.01℃
溫度傳感器: 鉑金電阻 PT100Ω/MV