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日本napson晶圓平整度測(cè)量厚度檢測(cè)FLA-200 測(cè)厚儀

產(chǎn)品二維碼
參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號(hào)：
  • 品牌：
  • 產(chǎn)品類(lèi)別：測(cè)厚儀
  • 所在地：東莞市
  • 信息完整度：
  • 樣本：
  • 更新時(shí)間：2023-09-30 09:10:17
  • 瀏覽次數(shù)：18
產(chǎn)品標(biāo)簽:

厚度計(jì)檢測(cè)厚度

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經(jīng)銷(xiāo)商

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  • 經(jīng)營(yíng)模式：經(jīng)銷(xiāo)商
  • 商鋪產(chǎn)品：2577條
  • 所在地區(qū)：廣東東莞市
  • 注冊(cè)時(shí)間：2023-07-25
  • 最近登錄：2023-07-25
  • 聯(lián)系人：陳霞 （銷(xiāo)售）
  • 電    話(huà)：18922517093
產(chǎn)品簡(jiǎn)介

日本napson晶圓平整度測(cè)量厚度檢測(cè)FLA-200
非接觸式平面度/厚度測(cè)量系統(tǒng)。測(cè)量晶片樣品的平整度（TTV，BOW，WARP）和厚度。

詳情介紹

日本napson晶圓平整度測(cè)量厚度檢測(cè)FLA-200

產(chǎn)品特點(diǎn)

非接觸式平面度/厚度測(cè)量系統(tǒng)。測(cè)量晶片樣品的平整度（TTV，BOW，WARP）和厚度。

  • -支持測(cè)量厚度，TTV，BOW，翹曲，場(chǎng)地平面度和整體平面度（符合ASTM）
  • ?支持2-D和3-D映射顯示的軟件
  • ?數(shù)據(jù)可以輸出為CSV文件
  • ?使用5mmφ芯線(xiàn)電容式探頭進(jìn)行高精度測(cè)量
  • ? 60秒內(nèi)進(jìn)行12,000點(diǎn)掃描/高速測(cè)量

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

?半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池材料相關(guān)（硅，多晶硅，SiC等）
?硅基外延，離子注入樣品
?化合物半導(dǎo)體相關(guān)（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）

測(cè)量尺寸

3-8英寸

測(cè)量范圍

厚度：200 –1200μm
弓形：+/- 350μm
翹曲：350μm

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