高溫四探針電阻率測試儀可以測量硅、鍺單晶電阻率和硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃和其他導電薄膜的方塊電阻，主要用于半導體薄膜和薄片的導電性能，高溫四探針電阻率測試儀就是，主要測量的參數就是半導體材料的電阻、電阻率、方塊電阻等。

　　四探針電阻率測試儀，四探針法是一種簡便的測量電阻率的方法。四探針法測量電阻率有個非常大的優(yōu)點，它不需要較準；有時用其它方法測量電阻率時還用四探針法較準。

　　四探針電阻率測試儀注意事項：

　　1、儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書，規(guī)范操作；

　　2、輕拿輕放，避免儀器震動，水平放置，垂直測量；

　　3、儀器不使用時請切斷電源，連接線無需經常拔下，避免灰塵進入航空插引起短接等現象；

　　4、探針筆測試結束，套好護套，避免人為斷針。

　　四探針電阻測試儀由主機、選配的四探針探頭和測試臺等三部分組成。

　　主機主要由數控恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成。自動/手動量程可選；電阻率、方阻、電阻測試類別快捷切換：儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入，簡便可靠；具有零位、滿度自校功能；測試結果由數字表頭直接顯示。

　　四探針電阻率測試儀測試四探針筆方法：

　　一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內并且不拆開難以取出，必須按照以下步驟進行操作：

　　1、先松開筆身尾部端側面的固定小螺絲，輕輕脫下尾部航空插口，保證探針頭部旋轉時同步旋轉，防止扭線斷線，短接;

　　2、輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片絕緣片與銅片之間的位置，(四片銅片每片間夾一片絕緣片，兩邊的銅片外側各兩片)，將斷針從銅片卡口座里取下即可;

　　3、特別注意一定不能將銅片取下時的位置錯亂，銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接;

　　4、安裝時銅片及絕緣片按照拆下時的排列輕輕塞進探針頭子，并先將探針頭子擰緊，再將尾部航空頭插上，并且旋緊小螺絲;

　　5、將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部。

　　未來的發(fā)展中，北京北廣精儀儀器設備有限公司將繼續(xù)依托強大的技術優(yōu)勢，以客戶滿意為目標，公司的宗旨是：以形象求發(fā)展，以服務求效益，以誠信為準則，以質量為生命。