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CS2350M雙恒電位儀

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號CS2350M

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地鄭州市

更新時(shí)間:2025-04-02 13:11:15瀏覽次數(shù):1次

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CS2350M雙恒電位儀可以實(shí)現(xiàn)2個(gè)通道同步測試,搭配旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電極(RRDE)使用
 CS2350M雙恒電位儀

可以實(shí)現(xiàn)2個(gè)通道同步測試,搭配旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電極(RRDE)使用。

● 雙恒電位儀;

● 雙通道電化學(xué)工作站,各通道測試,性價(jià)比G

● 應(yīng)用:盤環(huán)電極測試(RRDE)、氫擴(kuò)散測試(HDT)

● 全浮地模式,性價(jià)比G

● 電壓控制范圍:±10V,槽壓為±21V

● 電流控制范圍:±1.0A

● 電位分辨率:10μV,電流分辨率:1pA(可延伸至10 0fA)    

產(chǎn)品介紹

     CS2350M雙恒電位儀內(nèi)置兩套恒電位/恒電流儀,每套恒電位儀各有一套輔助、工作和參比電極輸出,并由CS Studio測試軟件來協(xié)調(diào)輸出電位/電流,CS2350M是真正意義上的雙通道電化學(xué)工作站。

具體應(yīng)用于:

    1. 雙通道使用,可同時(shí)進(jìn)行兩組常規(guī)電化學(xué)測試;

    2.雙通道組合使用,可用于電化學(xué)分析四電極工作體系,尤其在氧還原(ORR)中間產(chǎn)物收集、金屬氫擴(kuò)散測試有應(yīng)用。

    CS2350M雙恒電位儀具有CS單通道系列、寬量程以及強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析處理功能,而且在原有產(chǎn)品的基礎(chǔ)上創(chuàng)新突破。 CS2350M雙通道硬件設(shè)計(jì)可以實(shí)現(xiàn)兩組實(shí)驗(yàn)體系的測試要求,同時(shí),軟件的組合編程功能大大增加了實(shí)驗(yàn)的效率。

    典型案例:

    1. 雙通道測試

    使用電池測試夾,配合軟件的組合編程功能,給電池能源領(lǐng)域的用戶帶來智能的測試體驗(yàn)。

                                                        圖1.雙通道測量參數(shù)設(shè)置界面

2.配合旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電極(RRDE)用于研究氧化還原體系:

在測量圓盤電極極化曲線的同時(shí),將環(huán)電壓設(shè)置為恒電位,控制圓環(huán)電極在固定的極化電勢,用以檢測圓盤電極上產(chǎn)生的反應(yīng)中間物,該方法也成為檢測反應(yīng)中間物和研究電極反應(yīng)機(jī)理的典型流體動(dòng)力學(xué)方法。氧還原反應(yīng)的電子轉(zhuǎn)移數(shù)和相應(yīng)的雙氧水(中間產(chǎn)物)產(chǎn)率可分別通過公式測得:

                                                

其中知Idisk和Iring分別為測得的盤電流、環(huán)電流,電極收集效率N 由盤環(huán)電極參數(shù)決定(常數(shù))。將測試結(jié)果代入公式即求得實(shí)際反應(yīng)的電子轉(zhuǎn)移數(shù)n 和H2O2(%)所占比例。

3. 金屬中氫擴(kuò)散測試:

兩個(gè)恒電位裝置配合Devnathan-Stachurski 雙電解池,通過左側(cè)電解池的陰極充氫和右側(cè)電解的氫原子陽極氧化電流測量,進(jìn)而計(jì)算氫原子在金屬中擴(kuò)散系數(shù)和氫通量。

技術(shù)指標(biāo)

                                                硬件參數(shù)指標(biāo)

                                             電化學(xué)阻測量指標(biāo)

配置

1)儀器主機(jī)1臺(tái)

2)CS Studio測試與分析軟件1套

3)模擬電解池1個(gè)

4)電源線、網(wǎng)線各1條

5)電極電纜線2條

6)電腦(選配*)

功能方法

穩(wěn)態(tài)極化

開路電位測量(OCP)、恒電位極化(i-t曲線)、恒電流極化、動(dòng)電位掃描(TAFEL曲線)、動(dòng)電流掃描(DGP)

暫態(tài)極化

任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、恒電位階躍(VSTEP)、恒電流階躍(ISTEP)

計(jì)時(shí)分析

計(jì)時(shí)電位法(CP)、計(jì)時(shí)電流法(CA)、計(jì)時(shí)電量法(CC)

伏安分析

線性掃描伏安法(LSV)、線性循環(huán)伏安法(CV)、階梯循環(huán)伏安法(SCV)、方波伏安法(SWV)、差分脈沖伏安法(DPV)、常規(guī)脈沖伏安法(NPV)、常規(guī)差分脈沖伏安法(DNPV)、差分脈沖電流檢測法(DPA)、雙差分脈沖電流檢測法(DDPA)、三脈沖電流檢測法(TPA)、積分脈沖電流檢測法(IPAD)、交流伏安法(ACV)、二次諧波交流伏安(SHACV)、傅立葉變換交流伏安(FTACV)

溶出伏安

恒電位溶出伏安、線性溶出伏安、階梯溶出伏安、方波溶出伏安、差分脈沖溶出伏安、常規(guī)脈沖溶出伏安、常規(guī)差分脈沖溶出伏安、交流溶出伏安

交流阻

頻率掃描-電位控制模式(EIS-V) 、 頻率掃描-電流控制模式(EIS-I) 、 電位掃描(IMPE,Mott-Schotty) 、 時(shí)間掃描-電位控制模式、 時(shí)間掃描-電流控制模式

腐蝕測量

循環(huán)極化曲線(CPP)、線性極化曲線(LPR)、動(dòng)電位再活化法(EPR)、電化學(xué)噪聲(EN)、電偶腐蝕測量(ZRA)、氫擴(kuò)散測試 

電池測試

電池充放電測試、恒電流充放電、恒電位充放電、恒電位間歇滴定(PITT)、恒電流間歇滴定(GITT)

雙恒測量

氫擴(kuò)散測試(HDT)、盤環(huán)電極測試(RRDE)、法拉第效率測試(FET)

擴(kuò)展測量

盤環(huán)電極測試、數(shù)字記錄儀、波形發(fā)生器、圓盤電機(jī)控制、其它外設(shè)擴(kuò)展端口(定制)

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