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涂層測(cè)厚儀leeb231

產(chǎn)品二維碼
參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號(hào):leeb231
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類別:測(cè)厚儀
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時(shí)間:2023-10-01 13:55:59
  • 瀏覽次數(shù):7
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  • 經(jīng)營(yíng)模式:代理商
  • 商鋪產(chǎn)品:861條
  • 所在地區(qū):廣東深圳市
  • 注冊(cè)時(shí)間:2020-12-31
  • 最近登錄:2020-12-31
  • 聯(lián)系人:胡強(qiáng) (銷售)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介

涂層測(cè)厚儀leeb231● 全中文菜單;● 兩種工作方式;● 數(shù)據(jù)刪除功能;● 對(duì)界限外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;● 電源欠壓指示;● 手動(dòng)和自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式

詳情介紹

涂層測(cè)厚儀leeb231

【主要功能

采用電渦流測(cè)量方法,可無(wú)損地檢測(cè)非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。

● 全中文菜單;

● 兩種工作方式;

● 數(shù)據(jù)刪除功能;

● 對(duì)界限外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;

● 電源欠壓指示;

● 手動(dòng)和自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式

● 兩種測(cè)量方式;

● 可儲(chǔ)存500個(gè)測(cè)量值;

● 可設(shè)置界限;

涂層測(cè)厚儀leeb231

【技術(shù)參數(shù)

項(xiàng)目名稱

Leeb231

測(cè)頭類型

N1

測(cè)量原理

電渦流

測(cè)量范圍

0 ~ 1250um

分辨率

0.1um

示值誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)

±(3%H+1)um

二點(diǎn)校準(zhǔn)

±[(1~3)%H+1]um

測(cè)試條件

zui小曲率半徑

凸1.5mm 凹9mm

zui小面積直徑

φ7mm

基本臨界厚度

0.5mm

工作環(huán)境

溫度

0 ~ 40

濕度

20% ~ 90%

電源

AA堿性電池2節(jié)

電壓

3V

工作時(shí)間

100小時(shí)

外形尺寸

130*70*25 mm

重量

350g

外殼材質(zhì)

金屬外殼

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、N1探頭、堿性電池

可選配件

標(biāo)準(zhǔn)試片、探頭

PC通訊

儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)

探頭

F400

F1

F1/90

F10

N400

N1

CN02

測(cè)量原理

磁性

渦流

測(cè)量范圍(μm)

0~400

0~1250

0~10mm

0~400

0~12500

10~200

測(cè)量精度μm

一點(diǎn)校準(zhǔn)

±[(1~3)%H+0.7]

±(3%H+1)

±(3%H+10)

±(3%H+1)

±(3%H+1.5)

H+1)

二點(diǎn)校準(zhǔn)

±(1~3%H+0.7)

H+1]

±[(1~3)%H+10]

±[(1~3)%H+1]

±[(1~3)%H+1.5]

---

低限分辨率

0.1

0.1

1

0.1

0.1

1

zui小曲率半徑(mm)

(凸)1

1.5

平直

10

1.5

3

僅為平面

zui小面積直徑(mm)

¢3

¢7

¢40

¢4

¢5

¢7

基本臨界厚度(mm)

0.2

0.5

2

0.3

0.3

無(wú)限制

測(cè)頭選用參考表

覆蓋層基體

有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等)

非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)

覆蓋層厚度不超過(guò)100μm

覆蓋層厚度超過(guò)100μm

覆蓋層厚度不超過(guò)100μm

覆蓋層厚度超過(guò)100μm

如鐵、鋼等磁性金屬

被測(cè)面積直徑大于30mm

F400型測(cè)頭0~400μm
F1型測(cè)頭
0~1250μm

F1型測(cè)頭
0~1250μm
F10型測(cè)頭
0~10μm

F400型測(cè)頭0~400μm
F1型測(cè)頭
0~1250μm

F1型測(cè)頭
0~1250μm
F10型測(cè)頭
0~10μm

被測(cè)面積直徑小于30mm

F400型測(cè)頭0~400μm

F400型測(cè)頭0~400μm
F1型測(cè)頭
0~1250μm

F400型測(cè)頭0~400μm

F400型測(cè)頭0~400μm
F1型測(cè)頭
0~1250μm

如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬

被測(cè)面積直徑大于10mm

N1型測(cè)頭0~1250μm
N400測(cè)頭0~400μm

僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0~40μm N400測(cè)頭0~40μm

被測(cè)面積直徑大于10mm

N400測(cè)頭0~400μm

N400測(cè)頭0~40μm

塑料、印刷線路非金屬基體

被測(cè)面積直徑大于7mm

--

--

CN02型測(cè)頭10~200μm

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