金屬元素成分分析儀器
伊諾斯便攜式X射線金屬元素成分分析機器已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、采礦、金屬、土壤、環(huán)境、考古、木材、電子、醫(yī)藥、環(huán)保、啤酒、電力、石化、玩具等等領(lǐng)域
分析金屬元素成分設(shè)備 真正實現(xiàn)在現(xiàn)場進行無損,快速,準確的檢測,直接顯示元素的百分比含量。
只需將合金分析儀直接接觸待測合金表面,無須等待和花費時間即可現(xiàn)場確定合金等級。
被檢測的樣品的對象可以是合金塊、合金片、合金線等、
金屬元素成分分析儀器
儀器介紹:
手持式儀器資料:
伊諾斯便攜式X射線螢光光譜分析儀已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、采礦、金屬、土壤、環(huán)境、考古、木材、電子、醫(yī)藥、環(huán)保、啤酒、電力、石化、玩具、大型工程。
Delta標準型DS2000合金分析儀技術(shù)性能
. 真正實現(xiàn)在現(xiàn)場進行無損,快速,準確的檢測,直接顯示元素的百分比含量。
. 只需將合金分析儀直接接觸待測合金表面,無須等待和花費時間即可現(xiàn)場確定合金等級。
. 可延伸的探頭設(shè)計能對管道內(nèi)部、焊縫,等位置進行檢測。
. 可檢測溫度達450℃的溫材料。
. 可現(xiàn)場在庫中添加,編輯,刪除合號。
. 快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識別合金元素。
. 用戶化windows CE 6.0系統(tǒng)驅(qū)動的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場完成,用戶化windows CE僅保留有基本的windows與Delta系統(tǒng)有關(guān)的性能,使程序更具靈活性。
. 無需借助電腦,可在現(xiàn)場隨意,查看,放大相關(guān)元素的光譜圖。
. 防塵,防霧,防水:一體機設(shè)計,軟膠與塑膠部件凸槽 & 凹槽 構(gòu)造設(shè)計,使儀器具有很好的三防性能,可承受e劣的工作環(huán)境,大霧,下雨,塵土飛揚工裝場地也能正常工作。
. 腰帶、、肩帶能將儀器牢牢地固定在你的腰部,可在野外活動自如。
. 更的檢測精度,多次測試的平均值統(tǒng)計功能可有效地提儀器的檢測精度。
Delta標準型DS2000合金分析儀元素分析范圍
可分析從從12號元素Mg到94號元素PU之間的所有合金。
(標準型)合金分析儀器Innov-X Delta DS2000的分析模式與元素種類 |
分析模式 | 分析元素 |
元素分析范圍 | 分析范圍:從12號元素Mg鎂到94號元素PU范圍內(nèi)的31種基本元素,在以上范圍內(nèi),可以根據(jù)客戶需要更換其他元素。 |
Alloy Beam1模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素。 |
Alloy Beam2模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
Delta標準型DS2000合金分析儀用途及應(yīng)用
用于現(xiàn)場,無損,快速,準確分析檢測合金元素和合號的識別。
合金材料鑒別(PMI)
來料檢驗;庫存材料管理;安裝材料復(fù)檢
由于在石化建設(shè),金屬冶煉,壓力容器,電力電站,石油化工,精細化工,制藥,航空航天等行業(yè)中,混料或使用不合格的材料會產(chǎn)生嚴重的安全?肌?
Innov-X 便攜式XRF 合金分析儀用以確保生產(chǎn)設(shè)備與管道中所使用的合金零部件與設(shè)計要求的規(guī)格**。
Innov-X 便攜式XRF 合金分析儀攜帶方便,使用簡單,分析速度快,精度,其結(jié)果直接顯示合號、金屬成分的百分比含量,從而使Innov-X 便攜式XRF 合金分析儀成為合金*一供應(yīng)商。
金屬廢料回收
質(zhì)量保證與質(zhì)量控制(QA/QC)
合金分析儀技術(shù)規(guī)格
項目 | (標準型)合金分析儀Innov-X Delta |
尺寸與重量 | 外形尺寸:245x250x88mm;重量<1.5KG |
環(huán)境要求 | 環(huán)境濕度0~95%;環(huán)境工作溫度-20℃ ~50℃;亮黃 黑色、銀白色相間 |
激發(fā)源 | 大功率微型直板電子X射線管,內(nèi)置15kV~40kV多段可選擇的電壓;無壓電纜、無射頻噪聲、更好的X射線屏蔽、更好的散熱。 |
射線管靶材 | Au、Ag靶 |
X射線探測器 | 標準型SDD硅漂移探測器 |
冷卻系統(tǒng) | 采用了Peltier恒溫冷卻系統(tǒng),控測器在-35℃下工作,保證儀器的檢測精度,和不受外界溫度的影響 |
濾波器 | 八個濾光片可自動切換 |
主機供電系統(tǒng) | 2個鋰電池,110v/220通用充電器, 充電器適配器,智能接駁座 |
智能接駁座 | 可對額外電池充電、儀器內(nèi)置電池同時充電并顯示充電進度,接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù),可讓儀器即時標準化,儀器隨時待命狀態(tài) |
開機換電 | 儀器即使在開機狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機,時間可達30秒 |
標準化 | 儀器開機并不需要標準化,可以直接測試,標準化僅僅是可選項 |
平衡性 | 儀器具有很好的平衡性,在測試時能立于工作臺上,無需手扶,一鍵式按鈕設(shè)計,即使長時間操作也無疲勞感 |
散熱性 | 超過1/3的機體采用鋁合金外殼設(shè)計,儀器頂部有的槽式散熱裝置,整個體系使散熱非常有效,延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定,從而故障率極低 |
顯示器 | 整機一體化設(shè)計,工業(yè)級分辨率TFT QVGA卡西歐 BlanView® 觸摸顯示彩屏,帶LED背光;像素240×320 |
顯示器固定方式 | 一體機設(shè)計,整機連體構(gòu)造,PDA不可拆卸,可防塵,防霧,防水,故障低 |
數(shù)據(jù)顯示 | 百分比(%)顯示元素含量,元素顯示順序可按能量、濃度值、用戶自定義等方式排序,可統(tǒng)計多次測試的平均值,可接臺式電腦顯示;儀器在測試過程中同步動態(tài)顯示化學(xué)成份 |
數(shù)據(jù)存儲 | ROM128M、RAM128M、2G SD卡,可存儲205000組數(shù)據(jù)與光譜 |
數(shù)據(jù)傳輸 | USB電纜、無線藍牙進行數(shù)據(jù)傳輸,文件可采用TXT,EXCEL格式輸出。 |
處理器CPU | 532MHz CPU 、Freescal,ARM1136-MX31處理器,浮點運算方式,速度大幅提 |
系統(tǒng)CPU外設(shè) | 采用USB總線, I2C,GPIO, 藍牙, 加速器,實時的時鐘芯片,微型SD 存儲卡 (可存儲2GB 數(shù)據(jù)),GPIO 條帶連接到扳機和PSM |
操作系統(tǒng) | 用戶化 windows CE 6.0系統(tǒng) |
Alloy Beam1模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素 |
Alloy Beam2模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
合金建模方式 | 基本參數(shù)法,儀器在分析合金前不需要預(yù)先知道合金種類,實現(xiàn)全自動分析 |
合金種類 | 鐵合金系列、鎳基合金系列、鈷基合金系列、鈦基合金系列、銅基系列、6. 溫合金、鉬鎢合金、鋁合金、混雜合金系列 |
合號 | 內(nèi)置合號351種,用戶可自定義300種合號,能同時分析的合金651種,能分析的合金達萬種, |
小樣品測試 | 不規(guī)則或小型樣品的補償性測試方法能檢測很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細絲也能立即辨認 |
鋁合金 | 能測試Mg, Al, Si, P等元素,能識別全系列的39種鋁合號 |
.質(zhì)量保證:
公司保證向客戶提供,美國Innov-X公司*儀器,使用上等的材料和頭等工藝制成,全新,進口,未曾使用,并*符合本合同規(guī)定的質(zhì)量。貨品質(zhì)量保證期為十二個月.
.售后服務(wù):
美國(Innov-X System)公司為其范圍內(nèi)的伊諾斯產(chǎn)品提供售后服務(wù)。中國區(qū)域內(nèi)的伊諾斯用戶由深圳市售后服務(wù)中心 Innov-X中國服務(wù)中心負責(zé)產(chǎn)品的終身維護。美國伊諾斯(Innov-X System)公司為其范圍內(nèi)的伊諾斯產(chǎn)品主機提供壹年的保修期,為X射線管(X-tube),探測器(Dector)提供2000小時或壹年的保修期,為PDA提供壹年的保修期。附件鋰電池,電源供應(yīng)器,充電器, 數(shù)據(jù)傳輸座不在保修范圍內(nèi)。
直讀光譜儀資料:
型全譜直讀光譜儀采用標準的設(shè)計和制造工藝技術(shù),應(yīng)用了的CMOS信號采集元件,每塊CMOS都可以單獨設(shè)值火花個數(shù),與光譜儀yi流技術(shù)同步,采用真空光室設(shè)計及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀,既包含了CCD光譜儀的全譜特性,又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限,整機設(shè)計合理,操作簡單易學(xué),具有數(shù)據(jù),*穩(wěn)定性好等優(yōu)點。
應(yīng)用領(lǐng)域
冶金、鑄造、機械、科研、商檢、汽車、石化、造船、電力、航空、核電、金屬和有色冶煉、加工和回收工業(yè)中的各種分析。
可檢測基體
鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基。
主要技術(shù)參數(shù)
v 光學(xué)系統(tǒng):帕型-龍格 羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng)
v 波長范圍:140~680nm
v 光柵焦距:401mm
v 探 測 器:性能CMOS陣列/CCD陣列
v 光源類型:數(shù)字光源,能預(yù)燃技術(shù)(HEPS)
v 放電頻率:100-1000Hz
v 放電電流:大500A
v 工作電源:AC220V 50/60Hz 1000W
v 檢測時間:依據(jù)樣品類型而定,一般20S左右
v 其他功能:真空,溫度,軟件自動控制;壓力,通訊監(jiān)測
金屬元素成分分析儀器