X熒光光譜儀 返回列表頁

    本儀器專門針對貴金屬測試，采用新的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用新Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用于的基本參數(shù)法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)水平。

應(yīng)用領(lǐng)域：

    貴金屬（Pt、Au、Pd、Ag、Rh等）相關(guān)制品的生產(chǎn)、銷售、回收的檢測；

    用于各種金屬合金（銅合金、鐵合金、不銹鋼、錫合金等）的成份分析。

功能：

    開放式工作曲線，可以根據(jù)需求建立新工作區(qū)

    安全性能：迷宮式設(shè)計，*達到輻射安全指標

    測試操作簡單，實現(xiàn)傻瓜式操作模式

    報告模板多樣化，適應(yīng)各種測試需求

參數(shù)：

    分析軟件：Ux-6280貴金屬分析軟件

    分析元素種類：26種元素可同時分析

    分析方法：基本參數(shù)法（定量）

    分析元素范圍：Na-U,可同時分析26種元素

    測量范圍：ppm-100%

    測量時間：100－300s

    度：0.1%（常量相對誤差）

    分辨率：149±5eV

    管壓：5KV—50KV

    管流：50uA—1000uA

    功率：350W

    外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm³）

    樣品倉尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm³）

    重量：約48Kg

    工作環(huán)境：15－30°C，相對濕度≤85%（不結(jié)露）

    工作電源：AC220－240V，50/60Hz，350W

標準配置：

    探測器： 2級半導(dǎo)體電制冷；探測器晶體厚度500μm；探測靈敏面積6mm²；Be窗厚度為1mil

    壓電源：壓范圍0-50kV，功率50W，8h穩(wěn)定性0.05%

    X射線管：薄鈹窗側(cè)窗X射線管（Mo靶、Rh靶）

    清攝像頭裝置

    定位裝置

    自動開蓋裝置

X熒光光譜儀