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金屬材料檢測(cè)儀器

儀器介紹：

    手持式儀器資料：

伊諾斯便攜式X射線螢光光譜分析儀，有效檢的應(yīng)對(duì)有害元素檢測(cè)、合金分析、礦石分析、環(huán)境分析的產(chǎn)品，目前正服務(wù)于伊朗核查和歐美各大海關(guān)等重要部門(mén)。

Innov-Ｘ部分客戶

核查小組

大亞灣核電站

寶鋼集團(tuán)

*

撫順特鋼

齊魯特鋼，

黃埔電廠

嘉興電廠

寶豐不銹鋼管

鳳凰銅管

北方管業(yè)

中國(guó)石油

中國(guó)石化

中金有色金屬

江西銅業(yè)，

浙江廢舊金屬

瀘天化

銀海化肥

華北制藥

葛洲壩水泥

中國(guó)核動(dòng)力研究院

哈飛集團(tuán)

包頭坦克，

四川省煙草局

湖北省煙草局

鄭州

Delta標(biāo)準(zhǔn)型DS2000合金分析儀*性能

. 超的檢測(cè)精度度。

. 超的穩(wěn)定性，超的重復(fù)性。

. 優(yōu)異的線性相關(guān)性。

. 采用了*重新設(shè)計(jì)的射線管、無(wú)壓電源線、無(wú) RF 噪音、更好的X射線屏蔽。

. 結(jié)構(gòu)更精密，縮短了射線管、探測(cè)器與被測(cè)樣品之間的距離，對(duì)于某些應(yīng)用信號(hào)提了~40%.

. 新的濾波輪更輕、更薄，在位置上更加接近被測(cè)樣品，具有8 個(gè)濾波器，可適應(yīng)的配置，不同的元素采用不同的濾波器，產(chǎn)生好的分析效果。

. 超過(guò)1/3的機(jī)體采用鋁合金外殼設(shè)計(jì)，儀器頂部有的槽式散熱裝置，整個(gè)體系使散熱非常有效，延長(zhǎng)機(jī)器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定，從而故障率極低。

. SDD X射線探測(cè)器具有驚人的計(jì)數(shù)率,達(dá)200000,比普通的Si-Pin X射線探測(cè)器獲取數(shù)據(jù)的能力10倍。

. 可測(cè)試Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素。

. 內(nèi)置的氣壓計(jì)可以糾正氣壓，氣壓計(jì)壓力感應(yīng), 可根據(jù)不同的壓力調(diào)整，從而是檢測(cè)值更加準(zhǔn)確，儀器預(yù)設(shè)海平面，客戶在不同的海拔度測(cè)試，無(wú)需再次校準(zhǔn)。

. 內(nèi)置的加速器可探測(cè)運(yùn)動(dòng)和震動(dòng)，使儀器不用時(shí)待機(jī)，拿起時(shí)工作。

. 智能接駁座可對(duì)額外電池充電、儀器內(nèi)置電池同時(shí)充電并顯示充電進(jìn)度，接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù)，可讓儀器即時(shí)標(biāo)準(zhǔn)化，儀器隨時(shí)待命狀態(tài)。

. 儀器即使在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機(jī)，在系統(tǒng)運(yùn)作中拔掉電池，有超過(guò)30秒的時(shí)間可以插入一個(gè)新電池。

. 儀器開(kāi)機(jī)并不需要標(biāo)準(zhǔn)化，可以直接測(cè)試，標(biāo)準(zhǔn)化僅僅是可選項(xiàng)。

. 儀器外殼采用鋁合金、塑膠設(shè)計(jì)，堅(jiān)固耐用，手柄軟膠設(shè)計(jì)，手感好,更適合長(zhǎng)時(shí)間使用。

Delta標(biāo)準(zhǔn)型DS2000合金分析儀技術(shù)性能

. 真正實(shí)現(xiàn)在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行無(wú)損,快速,準(zhǔn)確的檢測(cè),直接顯示元素的百分比含量。

. 只需將合金分析儀直接接觸待測(cè)合金表面，無(wú)須等待和花費(fèi)時(shí)間即可現(xiàn)場(chǎng)確定合金等級(jí)。

. 被檢測(cè)的樣品的對(duì)象可以是合金塊、合金片、合金線、合金渣、合金粉。

. 快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識(shí)別合金元素。

Delta標(biāo)準(zhǔn)型DS2000合金分析儀元素分析范圍

可分析從從12號(hào)元素Mg到94號(hào)元素PU之間的所有合金。

直讀光譜儀資料：

      型全譜直讀光譜儀采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù)，應(yīng)用了的CMOS信號(hào)采集元件，每塊CMOS都可以單獨(dú)設(shè)值火花個(gè)數(shù)，與光譜儀yi流技術(shù)同步，采用真空光室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對(duì)非金屬元素的極低檢出限，整機(jī)設(shè)計(jì)合理，操作簡(jiǎn)單易學(xué)，具有數(shù)據(jù)，*穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。

主要技術(shù)參數(shù)

v  波長(zhǎng)范圍：140~680nm

v  光柵焦距：401mm

v  探 測(cè) 器：性能CMOS陣列/CCD陣列

v  放電頻率：100-1000Hz

v  放電電流：大500A

v  檢測(cè)時(shí)間：依據(jù)樣品類(lèi)型而定，一般20S左右

v  分析間隙：4mm

金屬材料檢測(cè)儀器