美國(guó)GE超聲波探頭MB4F簡(jiǎn)介
指尖探頭B..F和MB..F系列探頭:MB4F特性 與K..G和K..N探頭相類似,由于其扁平設(shè)計(jì),它們非常適合于那些不容易接近的位置的檢測(cè)。經(jīng)常被用作“搜索探頭”。
MB4F主要應(yīng)用: 通常:對(duì)所有類型零件內(nèi)部或近表面分布缺陷的探測(cè)和評(píng)估??梢杂糜谟斜Wo(hù)膜的探頭不適合于有鋒利邊緣的物體檢測(cè)。
主要特性:
1.單晶體探頭,用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
2.光滑表面上具有高的增益儲(chǔ)備和非常好的分辨率
3.陶瓷接觸表面的探頭有高的抗磨損性
4.特殊的平指尖式探頭
5.帶可互換延遲線的探頭具有*的近場(chǎng)分辨率
6.縱波的垂直掃描
更多美國(guó)GE德國(guó)KK探頭產(chǎn)品*----
1.美國(guó)GE超聲波探頭MB2F
2.美國(guó)GE超聲波探頭B5F
美國(guó)GE超聲波探頭MB2F簡(jiǎn)介
指尖探頭B..F和MB..F系列探頭:
與K..G和K..N探頭相類似,由于其扁平設(shè)計(jì),它們非常適合于那些不容易接近的位置的檢測(cè)。經(jīng)常被用作“搜索探頭”。
美國(guó)GE超聲波探頭MB2F主要特性:
1.單晶體探頭,用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
2.光滑表面上具有高的增益儲(chǔ)備和好的分辨率
3.陶瓷接觸表面的探頭有高的抗磨損性
4.特殊的平指尖式探頭
5.帶可互換延遲線的探頭具有*的近場(chǎng)分辨率
6.縱波的垂直掃描
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