AT510X6多路電阻測(cè)試儀 | |||||||||||||||||||||||||||||||||
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安柏AT510X6 是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,測(cè)試范圍從1μΩ~3MΩ,zui大顯示30,000數(shù)。受益于安柏的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)10ms/次,AT510X6 6路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)600個(gè)器件的測(cè)試。 |
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AT510X6多路電阻測(cè)試儀技術(shù)規(guī)格 |
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性能特征 |
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AT510X6應(yīng)用: |
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暫無(wú)信息 |