供應(yīng)集成電路芯片測(cè)試箱溫度快速變化試驗(yàn)箱 返回列表頁(yè)

一、供應(yīng)集成電路芯片測(cè)試箱溫度快速變化試驗(yàn)箱用途:
快速溫變?cè)囼?yàn)箱可以準(zhǔn)確地模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕復(fù)雜的自然狀環(huán)境，適用于塑膠、電子、食品、服裝、車輛、金屬、化學(xué)、建材等多種行業(yè)的產(chǎn)品可靠性檢測(cè)。

二、 供應(yīng)集成電路芯片測(cè)試箱溫度快速變化試驗(yàn)箱特點(diǎn)
     造型設(shè)計(jì)完美：圓弧造型及表面噴涂處理，高質(zhì)感外觀，并采用平面無(wú)反作用把手，操作容易，安全可靠。
    大型觀察窗視野寬廣明亮：采用三層真空鍍膜視窗和飛利浦節(jié)能熒光燈，無(wú)須雨刷除霧，保持清晰的觀測(cè)效果，  可隨時(shí)觀察試品的狀況。
   水電分離確保安全：加濕系統(tǒng)管路與 電源、控制器、電路板分離，可避免因管路漏水而影響電路，提高安全性。
  冷凍及控制系統(tǒng)*可靠：*歐美全封閉壓縮機(jī)，進(jìn)口環(huán)保冷媒，*LCD觸摸屏控制器，界面友好，操作簡(jiǎn)單易學(xué)。