PLD-MPCS2.0電子半導(dǎo)體清潔度分析系統(tǒng)（圖像法） 返回列表頁

電子半導(dǎo)體清潔度分析系統(tǒng)（圖像法）

產(chǎn)品簡介：

電子半導(dǎo)體圖像法清潔度分析系統(tǒng)是普勒新世紀(jì)實(shí)驗(yàn)按照普洛帝分析儀器事業(yè)部的規(guī)劃，于2001年推向市場的成熟系統(tǒng)儀器；

觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分布、數(shù)量、大小、平均長徑比以及長徑比分布等，為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測試手段；

電子半導(dǎo)體圖像法清潔度分析系統(tǒng)為一種圖像法粒度分布測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、圖像測試 CCD 攝像頭、三維立體載物平臺、圖像法顆粒分析系統(tǒng)軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成；為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測試手段。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

測試軟件具有審計(jì)追蹤、權(quán)限管控、電子記錄、測試標(biāo)準(zhǔn)、計(jì)量驗(yàn)證、報(bào)告模板、圖像存儲、顆粒追蹤、報(bào)告輸出、清潔度分析等功能；

全面自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)選擇、顆粒尺寸設(shè)定、顆粒計(jì)數(shù)，或按用戶設(shè)定范圍計(jì)數(shù)，自動(dòng)顯示分析結(jié)果，并按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定產(chǎn)品等級；

將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物；

軟件控制分析過程，手動(dòng)對焦，手動(dòng)光強(qiáng)（顆粒清潔度測試必須人為干預(yù)進(jìn)行），自動(dòng)掃描，自動(dòng)攝入，自動(dòng)分析；

專用數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；全自動(dòng)膜片掃描系統(tǒng)，無縫拼接，數(shù)字化顯微鏡分析系統(tǒng)；

R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng)；

顆粒圖像分析軟件及平臺對圖像進(jìn)行處理與分析；

引入3D遙感三維調(diào)控技術(shù)，快速定位，快速聚焦，體驗(yàn)極速無卡頓測試。

顯示器及打印機(jī)輸出分析結(jié)果；

直觀、形象、準(zhǔn)確、測試范圍寬以及自動(dòng)識別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、自動(dòng)標(biāo)定等特點(diǎn)；

避免激光法的產(chǎn)品缺陷，擴(kuò)展檢測范圍；

現(xiàn)實(shí)NAS、ISO等國際標(biāo)準(zhǔn)方法的認(rèn)可；

提供行業(yè)的“OIL17服務(wù)星"簽約式服務(wù)；

產(chǎn)品應(yīng)用：

航空、航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機(jī)械、汽車制造、制冷、電子、半導(dǎo)體、工程機(jī)械、液壓系統(tǒng)等領(lǐng)域；

對各類固體粉末、各類液體中的固體顆粒（非連續(xù)相測試）。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

0.1~3000μm的超寬范圍、超高分辨率。

可根據(jù)客戶要求，植入相應(yīng)“圖像法顆粒度"測試和評判標(biāo)準(zhǔn)。

技術(shù)參數(shù)：

產(chǎn)品型號：PLD-MPCS2.0

訂制要求：各類液體檢測要求；

測試范圍:   1μm-500μm

放大倍數(shù)：40X～l000X倍   

zui大分辨：0.1μm

顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）

重復(fù)性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）

數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)：500萬~1800萬像素

分析項(xiàng)目：粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等

自動(dòng)分割速度：< 1秒

分割成功率：> 93%

軟件運(yùn)行環(huán)境：Windows 10

接口方式：RS232或USB方式

精確度：<±3% 典型值；

重合精度：10000粒/mL（5%重合誤差）；

分 辨 率：>95%

售后服務(wù)：普洛帝服務(wù)中心/普研檢測。