HM5006抗干擾介質(zhì)損耗測試儀 返回列表頁

產(chǎn)品簡介
HM5006抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是一種*的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗*力強， 測試時間短等優(yōu)點;另外,本儀器針對電容式電壓互感器(CVT)試驗困難的特點,增設(shè)了外接法測試,外接標準電容器、調(diào)壓器,使得測試非常簡單可靠,是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測試儀。
 

HM5006抗干擾介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)指標

輸入： 220VAC 50Hz 5A 連續(xù)

輸出： 0-12kV 連續(xù)可調(diào)，100mA連續(xù)。樶大可達200mA (15分鐘開，15分鐘關(guān)，樶高8次)

            通過使用調(diào)諧電路可使輸出高達4A

測量范圍：電壓：250V—12kV，分辨率 10V;建議*小測量電壓250V

電流：   0—5A，分辨率 1μA 可測2.5kV，10kV等效電流

電容：   1pf—1.1μf 樶大分辨率 0.01pf

功率因數(shù)： 0—90% 樶大分辨率 0.01%

功耗：    0—2kw

有效功率：  0—100KW 當?shù)刃в?0kV，*大分辨率 0.1mW，測量值可等效2.5KV或10kV的值

測量精度：電壓(RMS)：       ±(讀數(shù)的1%+1位)

                 電流(RMS)：       ±(讀數(shù)的1%+1位)

電容： ±(讀數(shù)的0.5%+2pf)UST型;±(讀數(shù)的0.5%+6pf)GST型

功率因素：±(讀數(shù)的2%+0.05%)

功率因素：±(讀數(shù)的2%+1mW)

工作原理
啟動測量后高壓設(shè)定值送到變頻電源，變頻電源用PID算法將輸出緩速調(diào)整到設(shè)定值，測量電路將實測高壓送到變頻電源，微調(diào)低壓，實現(xiàn)準確高壓輸出。根據(jù)正/反接線和內(nèi)/外標準電容的設(shè)置，測量電路根據(jù)試驗電流自動選擇輸入并切換量程，測量電路采用傅立葉變換濾掉干擾，分離出信號基波，對標準電流和試品電流進行矢量運算，幅值計算電容量，角差計算tgδ。反復(fù)進行多次測量，經(jīng)過排序選擇一個中間結(jié)果。測量結(jié)束，測量電路發(fā)出降壓指令變頻電源緩速降壓到0。