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ANOTEST YMP30-S 鋁氧化層致密性測(cè)量?jī)x

ANOTEST YMP30-S 鋁氧化層致密性測(cè)量?jī)x特點(diǎn)

• 此手持式儀器測(cè)量氧化膜的導(dǎo)納（Y），符合 DIN EN ISO 12373-5 及 ASTM 457-67 標(biāo)準(zhǔn)。 測(cè)量范圍為 3 – 200 μS，測(cè)量槽直徑為 13 mm
• 通過(guò)可選的精準(zhǔn)電子參考物質(zhì)校準(zhǔn)儀器

ANOTEST YMP30-S鋁陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試儀典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 該儀器極適合快速簡(jiǎn)便的對(duì)鋁材上的陽(yáng)極氧化膜密閉性進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。 涂層的耐氣候性取決于導(dǎo)納（Y）

ANOTEST YMP30-S鋁陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試儀特性:

-大液晶屏
-電池或AC電源操作
-插入探針后自動(dòng)開(kāi)始測(cè)量
-自動(dòng)計(jì)算轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)尺寸的導(dǎo)納
-密封較差時(shí)也可以測(cè)試(如，Y > 15μS)
-可聲控測(cè)量開(kāi)始和結(jié)束
-自動(dòng)關(guān)閉
-可存儲(chǔ)100個(gè)測(cè)量應(yīng)用程序10000余組數(shù)據(jù)
-具有統(tǒng)計(jì)分析功能
-可選8種顯示語(yǔ)言
-RS232接口,用于連接打印機(jī)和電腦

ANOTEST YMP30-S鋁上陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量頻率:1KHz(DIN EN ISO 12373 - 5)

量程范圍：

    測(cè)試槽直徑6毫米(1):14 - 1400μS

    測(cè)試槽直徑13毫米:3 - 200μS

    測(cè)試槽直徑26毫米(1):0.75 - 75μS

電源:電池9v，6*LR61

儀器尺寸(L x W x H):160 mm x 80 mm x 30毫米

質(zhì)量:230克

(注)在應(yīng)用測(cè)試槽直徑6毫米和26毫米時(shí)，由于因?yàn)闇y(cè)試區(qū)域太小或者太大，所以不能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)量。