小型臺式化學鎳鍍層測試儀Couloscope 返回列表頁

小型臺式化學鎳鍍層測試儀Couloscope

庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。 這個方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu);它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法（DIN EN ISO 2177）。 簡單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗理想的解決方法。 設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個預(yù)留的應(yīng)用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）,以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。

COULOSCOPE CMS2系列的儀器通過電解鍍層來測量涂層厚度。 特別地，庫侖法可以用于準確地確定任何種類的基底上的多層。 部署CSM2 STEP版本用于單層的符合標準的STEP測試測量，并檢測電勢差，例如在鎳多層的質(zhì)量控制中。

特征：

• 高精度電解電鍍技術(shù)（電量分析法）準確測量多層
• 通過顯示和圖形支持的用戶指南易于操作
• 普遍適用：在金屬和非金屬基材上的測量，也適用于多層涂料
• 通過全面的配件組合適應(yīng)特定要求
   

應(yīng)用范圍：

• 金屬和非金屬基材上的任何種類的金屬涂層
• 單層和多層涂層厚度測量
• 特別適合通過STEP Test測量多層鎳
• 適用于0.05 µm至40 µm的涂層厚度

COULOSCOPE CMS2 STEP電解測厚儀介紹:

CMS2 STEP的特征是STEP測試功能（同時測定厚度和電位差）。 在多層鎳的量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試 （根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022）。 鍍層厚度根據(jù)庫侖法得出， 而電位差則由一個鍍有AgCl的銀電極得到。

作為測量鍍層厚度簡單的方法之-一，庫侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對于多鍍層結(jié)構(gòu)，當 允許破壞性測量時，它提供了一個比X射線更經(jīng)濟的替代方法。

應(yīng)用:
?強大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗。
?很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用CMS2簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層提供了準確的測量。在厚度范圍0.05.50um內(nèi)，很多,材料不需要預(yù)設(shè)定:基材組成和幾何形狀對于測量都是無關(guān)緊要的。
?常見的應(yīng)用之- -就是測量線路板上剩余的純錫，以確?？珊感浴６噱儗永鏑r/ Ni/Cu在鐵或者塑料(ABS)基材上,經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品，也可以用這個方法進行測量

COULOSCOPE CMS2的應(yīng)用實例:電鍍緊固件，測量PCB板上的剩余純錫厚度，鍍鉻件以及浴室用品