篤摯儀器(上海)有限公司
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Elektrophysik基礎款測厚儀Minitest 1100

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具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號

品       牌

廠商性質代理商

所  在  地上海市

更新時間:2022-05-22 07:10:04瀏覽次數(shù):10次

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Elektrophysik基礎款測厚儀Minitest 1100;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標準箔校準。

Elektrophysik基礎款測厚儀Minitest 1100

 

 

關于篤摯

篤摯儀器(上海)有限公司以“優(yōu)質成就價值——Focus On Better Quality”為宗旨,專注于計量檢測和材料分析設備的研究、引進與推廣,公司以深厚的工程技術背景和高效率的資源整合幫助企業(yè)在原始設計、開發(fā)周期、產品質量、在役檢測等各方面顯著提升效率和可靠性。

篤摯儀器(上海)有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區(qū)的合作伙伴,憑借種類齊全的產品資源和服務,涵蓋光學儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、量具量儀等各類檢測設備,努力為客戶解決日新月異的測量分析技術挑戰(zhàn),共同提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案,有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標。

篤摯儀器(上海)有限公司的產品和系統(tǒng)方案廣泛應用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業(yè),用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能,推動著*制造技術的精益求精。

 


EPK成立與發(fā)展

自1948年德國Steingoever博士發(fā)明*臺利用磁吸力原理的測厚儀以來,德國EPK公司一直是表面科技的*之一、是無損涂層厚度測量的。 ElektroPhysik公司(簡稱EPK)總部位于德國科隆,是生產表面檢測儀器的,有超過60年的市場經驗,研發(fā)和生產了品種繁多的的測量儀器。質量是EPK的主要目標,EPK從研發(fā)到使用、維修各個環(huán)節(jié),都符合ISO 9001:2000質量體系,始終為每一個應用領域提供適合的產品。
EPK在不斷開發(fā)和創(chuàng)新科技產品過程中,贏得了良好的聲譽。作為無損檢測厚度行業(yè)的*,EPK與國內的研究所和大學合作,實現(xiàn)了涂層厚度測量的成功發(fā)展和標準化。將來,EPK將全力發(fā)展自己的產品以符合zui高技術要求。
化的今天,EPK在世界各地都設有自己的分支機構和經銷商。

 

 

Elektrophysik基礎款測厚儀Minitest 1100
可選探頭參數(shù)

所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。

  • F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
  • N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
  • FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

 

德國Elektrophysik Minitest 1100測厚儀

技術參數(shù):

MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù))111099
每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算,并可設寬容度極限值) 11099
可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) 1500500
數(shù)據(jù)總量1100001000010000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar 
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar  
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數(shù)據(jù)   
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值  
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 
其他功能
設置極限值  
連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值  
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)  
連續(xù)測量模式中顯示zui小值  

德國Elektrophysik Minitest 1100測厚儀探頭

探頭量程低端
分辨率
誤差zui小曲率半徑
(凸/凹)
zui小測量
區(qū)域直徑
zui小基
體厚度
探頭尺寸



F050-500μm0.1μm±(1%±0.7μm)1/5mm3mm0.2mmφ15x62mm
F1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x8x170mm
F2/900-2000μm0.2μm±(1%±1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x8x170mm
F30-3000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F100-10mm5μm±(1%±10μm)5/16mm20mm1mmφ25x46mm
F200-20mm10μm±(1%±10μm)10/30mm40mm2mmφ40x66mm
F500-50mm10μm±(3%±50μm)50/200mm300mm2mmφ45x70mm

FN1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mm/N50μmφ15x62mm
FN1.6P0-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面30mmF0.5mm/N50μmφ21x89mm
FN20-2000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mm/N50μmφ15x62mm



N020-200μm0.1μm±(1%±0.5μm)1/10mm2mm50μmφ16x70mm
N.08Cr0-80μm0.1μm±(1%±1μm)2.5mm2mm100μmφ15x62mm
N1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm2mm50μmφ15x62mm
N1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x13x170mm
N20-2000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm50μmφ15x62mm
N2/900-2000μm0.2μm±(1%±1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x13x170mm
N100-10mm10μm±(1%±25μm)25/100mm50mm50μmφ60x50mm
N200-20mm10μm±(1%±50μm)25/100mm70mm50μmφ65x75mm
N1000-100mm100μm±(1%±0.3mm)100mm/平面200mm50μmφ126x155mm
CN0210-200μm0.2μm±(1%±1μm)平面7mm無限制φ17x80mm
 

 

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