篤摯儀器(上海)有限公司
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德國(guó)Elektrophysik Minitest 1100測(cè)厚儀

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品       牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地上海市

更新時(shí)間:2022-05-22 07:10:04瀏覽次數(shù):6次

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德國(guó)Elektrophysik Minitest 1100測(cè)厚儀數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號(hào)均可配所有探頭;
可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

 

德國(guó)Elektrophysik Minitest 1100測(cè)厚儀

 

關(guān)于篤摯

篤摯儀器(上海)有限公司以“優(yōu)質(zhì)成就價(jià)值——Focus On Better Quality”為宗旨,專注于計(jì)量檢測(cè)和材料分析設(shè)備的研究、引進(jìn)與推廣,公司以深厚的工程技術(shù)背景和高效率的資源整合幫助企業(yè)在原始設(shè)計(jì)、開發(fā)周期、產(chǎn)品質(zhì)量、在役檢測(cè)等各方面顯著提升效率和可靠性。

篤摯儀器(上海)有限公司擁有源自美國(guó)、英國(guó)、德國(guó)等多地區(qū)的合作伙伴,憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù),涵蓋光學(xué)儀器、測(cè)量?jī)x器、無(wú)損檢測(cè)、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、量具量?jī)x等各類檢測(cè)設(shè)備,努力為客戶解決日新月異的測(cè)量分析技術(shù)挑戰(zhàn),共同提供定制化精密測(cè)量和性能分析系統(tǒng)解決方案,有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。

篤摯儀器(上海)有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國(guó)有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè),用于評(píng)價(jià)材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能,推動(dòng)著*制造技術(shù)的精益求精。

 


EPK成立與發(fā)展

自1948年德國(guó)Steingoever博士發(fā)明*臺(tái)利用磁吸力原理的測(cè)厚儀以來(lái),德國(guó)EPK公司一直是表面科技的*之一、是無(wú)損涂層厚度測(cè)量的。 ElektroPhysik公司(簡(jiǎn)稱EPK)總部位于德國(guó)科隆,是生產(chǎn)表面檢測(cè)儀器的,有超過(guò)60年的市場(chǎng)經(jīng)驗(yàn),研發(fā)和生產(chǎn)了品種繁多的的測(cè)量?jī)x器。質(zhì)量是EPK的主要目標(biāo),EPK從研發(fā)到使用、維修各個(gè)環(huán)節(jié),都符合ISO 9001:2000質(zhì)量體系,始終為每一個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域提供適合的產(chǎn)品。
EPK在不斷開發(fā)和創(chuàng)新科技產(chǎn)品過(guò)程中,贏得了良好的聲譽(yù)。作為無(wú)損檢測(cè)厚度行業(yè)的*,EPK與國(guó)內(nèi)的研究所和大學(xué)合作,實(shí)現(xiàn)了涂層厚度測(cè)量的成功發(fā)展和標(biāo)準(zhǔn)化。將來(lái),EPK將全力發(fā)展自己的產(chǎn)品以符合zui高技術(shù)要求。
化的今天,EPK在世界各地都設(shè)有自己的分支機(jī)構(gòu)和經(jīng)銷商。


可選探頭參數(shù)

所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。

  • F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
  • N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層 
  • FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

 

德國(guó)Elektrophysik Minitest 1100測(cè)厚儀

技術(shù)參數(shù):

MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))111099
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值) 11099
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) 1500500
數(shù)據(jù)總量1100001000010000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar 
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar  
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)   
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值  
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 
其他功能
設(shè)置極限值  
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別zui大zui小值  
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)  
連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值  

探頭

探頭量程低端
分辨率
誤差zui小曲率半徑
(凸/凹)
zui小測(cè)量
區(qū)域直徑
zui小基
體厚度
探頭尺寸


應(yīng)
F050-500μm0.1μm±(1%±0.7μm)1/5mm3mm0.2mmφ15x62mm
F1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x8x170mm
F2/900-2000μm0.2μm±(1%±1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x8x170mm
F30-3000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F100-10mm5μm±(1%±10μm)5/16mm20mm1mmφ25x46mm
F200-20mm10μm±(1%±10μm)10/30mm40mm2mmφ40x66mm
F500-50mm10μm±(3%±50μm)50/200mm300mm2mmφ45x70mm

FN1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mm/N50μmφ15x62mm
FN1.6P0-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面30mmF0.5mm/N50μmφ21x89mm
FN20-2000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mm/N50μmφ15x62mm



N020-200μm0.1μm±(1%±0.5μm)1/10mm2mm50μmφ16x70mm
N.08Cr0-80μm0.1μm±(1%±1μm)2.5mm2mm100μmφ15x62mm
N1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm2mm50μmφ15x62mm
N1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x13x170mm
N20-2000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm50μmφ15x62mm
N2/900-2000μm0.2μm±(1%±1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x13x170mm
N100-10mm10μm±(1%±25μm)25/100mm50mm50μmφ60x50mm
N200-20mm10μm±(1%±50μm)25/100mm70mm50μmφ65x75mm
N1000-100mm100μm±(1%±0.3mm)100mm/平面200mm50μmφ126x155mm
CN0210-200μm0.2μm±(1%±1μm)平面7mm無(wú)限制φ17x80mm
 

 

 

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