QNix 4500便攜膜厚儀 返回列表頁

QNix 4500便攜膜厚儀

  尼克斯測厚儀檢測的方法
無損檢測技術是一門理論上綜合性較強，又非常重視實踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學科。它涉及到材料的物理性質、產(chǎn)品設計、制造工藝、斷裂力學以及有限元計算等諸多方面。
在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中，為了實現(xiàn)對各類材料的保護或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法，這樣，便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進行成品質量檢測*的zui重要的工序。是產(chǎn)品達到優(yōu)質標準的*手段。
目前，國內外已普遍按統(tǒng)一的標準測定涂鍍層厚度，覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質研究方面的逐漸進步而更加至關重要。
有關覆層無損檢測方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，系有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍小。因有放射源，故使用者必須遵守射線防護規(guī)范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。電容法一般僅在很薄導電體的絕緣覆層厚度測試上應用。磁性測量法及渦流測量法，隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微處理機技術后，測厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實用化方面邁進了一大步。測量的分辨率已達0.1μm，精度可達到1%。又有適用范圍廣，量程寬、操作簡便、價廉等特點。是工業(yè)和科研使用zui廣泛的儀器。采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，故能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。

    測厚儀采用的電子技術,能滿足各種不同的測量要求。高精度的設備,堅固的結構和便于使用等特點使得該儀器具有廣泛的應用。 只要正確使用和維護,它的壽命會很長。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與 潮氣,具有化學腐蝕性的物質或氣 體接觸。使用完畢,儀器應被放回具有保護性 和便于挪動的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測量結果,所以不要直接把儀器暴 露在強烈的陽光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對大多數(shù)溶劑具有抵抗性, 但不能保證極少數(shù)化學物質的腐蝕,只有探針保持清潔,才能獲得準確的數(shù)據(jù),所 以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器*不被使用時, 為 避免因漏電而損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時,請不要自行修理,我們的維修部門 隨時竭誠為您服務。 產(chǎn)品從購買之日起保修一年，紅寶石磨損及其他人為因素造成儀器損壞不予 保修。

QNix 4500便攜膜厚儀

    可以測量磁性基體(Fe模式)；可以測量非磁性基體(NFe模式)；測量范圍：Fe:0-3000um；NFe:0-3000um；顯示精度:0.1um；精度:0-50um:≤±1um  50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)  1000-3000um≤±3%讀數(shù)；zui小接觸面：10×10mm；zui小曲率半徑:凸面：3mm；凹面：25mm；zui小基體厚度:Fe:0.2mm/NFe:0.05mm；溫度補償范圍:0-60℃；顯示:LCD液晶(帶背光)；探頭:紅寶石固定式；電源：2×1.5V干電池；尺寸：100×60×27mm；重量：110g

    通過與工藝，行業(yè)和服務行業(yè)的用戶密切合作，已經(jīng)創(chuàng)建了一個模塊化涂層厚度計，將各種經(jīng)過驗證的QNix量規(guī)的許多特性結合在一個設備中。模塊化測量系統(tǒng)是一種特別小巧便利的涂層厚度計，可直接插入微型探頭。為了靈活使用，微型探頭也可以連接到延長電纜。模塊化測量系統(tǒng)提供高達5000μm的移動性，高測量精度，易于處理和不同尋常的應用。 是一種特別小巧便利的測量儀，用于對所有Fe和NFe襯底上的涂層厚度進行非破壞性測量。可以通過直接插入微型探頭或將探頭連接到插入的延長電纜上使用。

QNix 4500便攜式膜厚儀

儀器使用：

1.開機： 裝入電池后按紅色按鍵或將儀器探頭垂直接觸被測物體表面并壓實，儀器將 自動開機。（使用時務必要使探頭垂直接觸被測物表面并壓實，禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動探頭，以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測量后將儀器拿起，離開被測物 10cm 以上，再進行下次測量。）
2.設置： 開機后按紅色按鍵進入菜單，QNix®4500 為 4 個選項，QNix®4500 為 2 個選 項，見下圖：
選擇基體 選擇基體 Fe NFe Fe/NFe 取平均值 QNix®4500 QNix®4200
“Fe”為磁性金屬基體模式， “NFe”為非磁性金屬基體模式（僅 QNix®4500）， “Fe/NFe”為自動識別基體模式（僅 QNix®4500）， “取平均值”為儀器自動顯示 zui后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測量）。
按紅鍵進入菜單后，繼續(xù)按紅鍵進行選擇，將光標在選項上停留 2 秒后，進 入所選項目。如在“Fe”選項上停留 2 秒后，儀器顯示如下：
Fe 測量模式
這時儀器進入 Fe（磁性金屬基體）模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe（非 磁性金屬基體）、Fe/NFe（磁性非磁性基體自動識別）模式下工作。
進入“取平均值”選項后，儀器顯示如下
取平均值 關 開
在“開”選項上停留 2 秒后，取平均值開啟，測量時顯示數(shù)據(jù)為zui后三次讀
數(shù)的平均值（包括本次測量），測量時在屏幕右上角出現(xiàn)“
— X ”符號時表示取平
均值開啟，如不需要請關閉（在取平均值選項里選擇“關”）即可。

3.測量： （1）調零： 儀器在測量前，應在基體上取零位作基準。建議用未噴涂的同一種工件表面 調零，因為材料之間導磁性和導電性不同，會造成一定誤差。 選擇相應 Fe 或 NFe 模式后，將儀器探頭壓在調零板或未噴涂的工件表面上， 不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開，儀器依次顯示“零位參照、放置探頭”、 “零位參照，拿起探頭”或聽到儀器響聲后，拿起儀器，出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)或聽到響 聲后，液晶顯示 0，調零完畢。
注意：由于工件表面粗糙度等原因，調零后，再測時不一定是的零位， 這是正常現(xiàn)象。
（2）測量 將儀器探頭垂直接觸被測物的表面，儀器將自動測出并顯示數(shù)據(jù)。（建議用 拇指和食指拿住儀器凹槽處使用，分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用）

4.分體型說明： QNix®4200P、QNix®4200P5、QNix®4500P、QNix®4500P5 采用有線分體型設 計，測量方便、穩(wěn)定、準確，探頭連接線堅固耐用，還可滿足一些狹小空間的測 量。探頭線和探頭可更換。