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EPK麥考特MIKROTEST G6準確測量
測厚儀按照測量的方式不同,可大致分為:
1、接觸式測厚儀
接觸面積大小劃分:點接觸式測厚儀;面接觸時測厚儀
2、非接觸式測厚儀
非接觸式測厚儀根據其測試原理不同,又可分為以下幾種:激光測厚儀;超聲波測厚儀;涂層測厚儀;X射線測厚儀;白光干涉測厚儀;電解式測厚儀;管厚規(guī)。
EPK麥考特MIKROTEST G6屬于涂層測厚儀:
涂層測厚儀:
涂層測厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂層厚度。
涂層測厚儀具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);設有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(NO.)、標準偏差(S.DEV)
涂鍍層測厚儀測量原理:
1.磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼,鐵,銀,鎳。此種方法測量精度高。
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